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龙图腾网获悉苏州工学院申请的专利基于光谱技术的化学材料纯净度分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120293895B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510781520.9，技术领域涉及：G01N21/35；该发明授权基于光谱技术的化学材料纯净度分析方法是由沈骏宇;张昀轩;谢泰来设计研发完成，并于2025-06-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于光谱技术的化学材料纯净度分析方法在说明书摘要公布了：本发明公开了基于光谱技术的化学材料纯净度分析方法，本发明涉及光谱分析技术领域，解决了现有针对化学材料进行光谱分析不够全面的问题，本发明通过利用吸收峰变化特征进行校验核对来标定同类吸收峰，考虑吸收峰前后波段变化特征及重合率，能有效区分不同吸收峰，避免重复确认同类吸收峰波长，提高分析效率与准确性；不仅能确定杂质基键，还基于云数据库将杂质基键关联组合成可疑杂质集，通过吸收峰校验锁定疑似强度最高杂质集，从微观基键层面拓展到宏观杂质集合分析，深度剖析杂质情况，为化学材料质量评估提供更全面信息。

本发明授权基于光谱技术的化学材料纯净度分析方法在权利要求书中公布了：1.基于光谱技术的化学材料纯净度分析方法，其特征在于，包括以下步骤： 通过改变红外光的频率对化学材料进行光谱测试，确认不同频率所对应的不同红外光谱图并标定吸收峰； 确定对应吸收峰所关联的变化特征，再将属于不同红外光谱图中不同吸收峰的变化特征进行校验核对，基于核对结果标定同类吸收峰，方式为： 基于吸收峰所在的红外光谱图，确认对应吸收峰所在的待定波段，并将待定波段中吸收峰前端走势持续向下的曲段以及后端走势持续向上的曲段作为此吸收峰的变化波段； 基于对应吸收峰所确定的变化波段，将吸收峰前端的部分波段记作前波段，将后端的部分波段记作后波段，从前波段中识别相邻节点的变化特征，将相邻节点前一节点所关联的波数记作B1，将吸收率记作X1，将后一节点所关联的波数记作B2，将吸收率记作X2，采用：变化特征=|B1-B2|÷|X1-X2|，确认其相邻节点的变化特征，并确定前波段所关联的若干个变化特征，从中选定最小值以及最大值，确认前波段的前特征区间，采用相同的处理方式，锁定后波段的后特征区间； 依据不同频率红外光所对应的不同红外光谱图，根据频率从小至大的方式，将红外光谱图进行排序； 从排序后的红外光谱图中，识别相邻红外光谱图所关联的同类吸收峰：确认吸收峰所关联的波数BSi-k，其中i=1时，代表前一组红外光谱图，i=2时，代表后一组红外光谱图，k代表不同的吸收峰，将满足：|BS1-k-BS2-k|≤Y1的两组吸收峰记作待比较峰，其Y1取值200cm-1，将两个待比较峰所关联的前特征区间进行重合度校验，锁定前重合率，再将两个待比较峰所关联的后特征区间进行重合度校验，锁定后重合率，将满足：（前重合率+后重合率）÷2≥80％的两组待比较峰记作同类吸收峰； 从同类吸收峰中确定最低吸收率所关联的吸收峰记作主峰，并基于主峰以及其他吸收峰的波数，锁定对应基键的波长，以此确定此化学材料所关联的波长集合，方式为： 优先确认同类吸收峰中不同吸收峰所关联的吸收率，从中确定最小吸收率，并将最小吸收率所关联的吸收峰作为此同类吸收峰的主峰，不属于主峰的其他同类吸收峰不参与波长确认进程； 波长确认进程：锁定不同红外光谱图中不同吸收峰所关联的波数，并采用：波长=1÷波数确认对应吸收峰所关联的波长，其波长就是对应基键所关联的振荡波长； 将所确认的若干个波长依据数值从小至大的方式进行排序，确认本化学材料所关联的波长集合； 依据此化学材料所关联的波长集合，结合基键对照表以及化学材料的原有基键，锁定杂质基键并输出展示，具体方式为： 基于预设的基键对照表，确认其波长集合内对应波长所相关的基键：其基键对照表内每个不同基键均存在一个波长区间，当对应波长属于对应的波长区间时，则代表对应基键存在； 基于此化学材料的相关配料表，确认此化学材料所存在的原有基键，并将所存在的所有原有基键记作一个原有基键群； 识别波长集合内所相关的基键是否存在于原有基键群内，将存在于原有基键群的基键记作存在基键，将未存在于原有基键群的基键记作杂质基键。

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