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龙图腾网获悉西安博尔新材料有限责任公司申请的专利一种基于图像处理的碳化硅晶粒度检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120259314B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510748331.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于图像处理的碳化硅晶粒度检测方法是由陆树河;邓丽荣;王嘉博设计研发完成，并于2025-06-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于图像处理的碳化硅晶粒度检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及图像处理技术领域，更具体地，本发明涉及一种基于图像处理的碳化硅晶粒度检测方法，该方法包括，采集碳化硅灰度图像，对碳化硅灰度图像进行边缘检测，得到晶粒区域，获取每个晶粒区域的边缘混乱程度，根据每个晶粒区域的灰度分布复杂程度以及纹理分布杂乱程度，获取每个晶粒区域的内部一致性，根据每个晶粒区域的内部一致性以及边缘混乱程度，获取每个晶粒区域的调整因子，根据所述调整因子对每个晶粒区域的等效圆直径调整，获取每个晶粒区域的最终等效圆直径，根据每个晶粒区域的最终等效圆直径，获取每个晶粒区域的晶粒度，本发明提高了碳化硅的晶粒度获取的准确性。

本发明授权一种基于图像处理的碳化硅晶粒度检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于图像处理的碳化硅晶粒度检测方法，其特征在于，包括： 采集碳化硅灰度图像；对碳化硅灰度图像进行边缘检测，获取若干个晶粒区域； 获取每个晶粒区域的边缘混乱程度，包括：获取每个晶粒区域中的最小直径以及最大直径；，代表第i个晶粒区域的边界混乱程度，代表第i个晶粒区域中的像素点数量，代表第i个晶粒区域的边缘像素点数量的平方，代表第i个晶粒区域中的最大直径，代表第i个晶粒区域中的最小直径，exp代表以自然常数为底数的指数函数； 获取每个晶粒区域的横向灰度共生矩阵以及纵向灰度共生矩阵； 根据每个晶粒区域的横向灰度共生矩阵以及纵向灰度共生矩阵中每种纹理的频率值，获取每个晶粒区域的内部一致性，包括：，代表第i个晶粒区域的内部一致性，代表第i个晶粒区域的横向灰度共生矩阵的纹理种类数，代表第i个晶粒区域的横向灰度共生矩阵中第m种纹理的频率值的平方，代表第i个晶粒区域的纵向灰度共生矩阵的纹理种类数，代表第i个晶粒区域的纵向灰度共生矩阵中第n种纹理的频率值的平方，代表第i个晶粒区域中第j个像素点的灰度值，代表第i个晶粒区域中所有像素点的灰度均值； 根据每个晶粒区域的内部一致性以及边缘混乱程度，获取每个晶粒区域的调整因子；根据所述调整因子对每个晶粒区域的等效圆直径调整，获取每个晶粒区域的最终等效圆直径；根据每个晶粒区域的最终等效圆直径，获取每个晶粒区域的晶粒度。

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