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龙图腾网获悉上海艾录包装股份有限公司;上海艾创包装科技有限公司申请的专利一种包膜加工用涂布装置调节方法及涂布装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120243400B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510733265.0，技术领域涉及：B05D1/02；该发明授权一种包膜加工用涂布装置调节方法及涂布装置是由陈安康;徐贵云;董宏奎;姜春杰设计研发完成，并于2025-06-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种包膜加工用涂布装置调节方法及涂布装置在说明书摘要公布了：本申请涉及一种包膜加工用涂布装置调节方法及涂布装置,涉及包膜涂布加工技术领域的领域，其包括：分析待加工样品的基材类型以及样品厚度，并匹配所述基材类型对应的目标涂布厚度；按照目标涂布厚度和样品厚度进行分析以确定涂布参数，所述涂布参数包括涂料供应压力、样品张力、涂布速度；基于涂布参数和预设的涂布优化策略生成多组模拟涂布参数，并进行涂布处理得到多组涂布模拟样品；对多组涂布模拟样品进行厚度检测以确定和目标涂布厚度最接近的最优涂布模拟样品，并标记得到最佳涂布参数；基于最佳涂布参数对待加工样品进行涂布处理。本申请具有提高不同基材产品进行涂布加工时保持厚度一致性的效果。

本发明授权一种包膜加工用涂布装置调节方法及涂布装置在权利要求书中公布了：1.一种包膜加工用涂布装置调节方法，其特征在于，包括： 分析待加工样品的基材类型以及样品厚度，并匹配所述基材类型对应的目标涂布厚度； 按照目标涂布厚度和样品厚度进行分析以确定涂布参数，所述涂布参数包括涂料供应压力、样品张力、涂布速度； 基于涂布参数和预设的涂布优化策略生成多组模拟涂布参数，并进行涂布处理得到多组涂布模拟样品；所述涂布优化策略包括： 根据基材类型查询预设历史涂布参数数据库中基材物理性能参数匹配度不低于预设阈值的近似涂布参数； 基于近似涂布参数和样品的涂布参数进行参数差值分析，以确定参数调节基准单位； 以参数调节基准单位为单位生成相邻多组的涂布参数作为模拟涂布参数； 生成模拟涂布参数时，还包括： 建立基材形变-涂层厚度传递函数模型，并分析得到涂料供应系统的压力补偿量； 基于压力补偿量对涂料供应系统进行压力调节； 所述基材形变-涂层厚度传递函数模型如下： ； 其中，表示压力补偿量，表示设定的曲率补偿增益，表示基材发生弯曲时的曲率半径，表示样品局部形变区的曲率梯度，表示设定的样品应变率阻尼系数，表示检测到的样品表面微应变，表示基材的实时应变率； 对多组涂布模拟样品进行厚度检测以确定和目标涂布厚度最接近的最优涂布模拟样品，并标记得到最佳涂布参数； 基于最佳涂布参数对待加工样品进行涂布处理。

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