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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利微孔内表面大角度曲面轮廓测量方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120252572B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510735572.2，技术领域涉及：G01B11/24；该发明授权微孔内表面大角度曲面轮廓测量方法及装置是由卢文龙;吴运权设计研发完成，并于2025-06-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本微孔内表面大角度曲面轮廓测量方法及装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种微孔内表面大角度曲面轮廓测量方法及装置，属于光学测量技术领域，所述装置包括：至少三个倾斜布局的光路、光谱仪及处理单元。每个光路包含光纤、反射棱镜（第一、二光路）和色散超透镜，其中发散光经反射棱镜折射或直接入射至色散超透镜后聚焦于被测曲面，反射光经原路返回由光谱仪解析各光路的光谱波长与光强序列数据。处理单元通过提取各测量点峰值波长计算位移值并转化为三维空间坐标，通过数据拟合重构曲面轮廓。本发明采用色散超透镜与多光路协同设计，结合反射棱镜缩小传感器体积；通过预设光轴倾斜角度覆盖不同倾斜区域，消除高曲率区域测量盲区，配合光谱共焦层析技术实现大角度曲面的高精度测量。

本发明授权微孔内表面大角度曲面轮廓测量方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种微孔内表面大角度曲面轮廓测量装置，其特征在于，包括：至少三个光路、光谱仪以及处理单元； 至少三个光路，包括：第一光路、第二光路和第三光路； 所述第一光路包括第一光纤、第一反射棱镜和第一色散超透镜，所述第一光纤发出的发散光经第一反射棱镜反射至第一色散超透镜，并透过第一色散超透镜聚焦在被测曲面； 所述第二光路包括第二光纤、第二反射棱镜和第二色散超透镜，所述第二光纤发出的发散光经第二反射棱镜反射至第二色散超透镜，并透过第二色散超透镜聚焦在被测曲面； 所述第三光路包括第三光纤和第三色散超透镜，所述第三光纤发出的发散光直接入射至第三色散超透镜，并透过第三色散超透镜聚焦在被测曲面； 光谱仪，用于分析第一光纤、第二光纤和第三光纤分别接收的沿原光路返回的被测曲面的反射光，并输出各光路对应的测量点的光谱波长序列数据和对应的光强序列数据； 处理单元，配置为： 根据每个测量点的光谱波长序列数据和对应的光强序列数据，获取每个测量点的峰值波长，并根据每个测量点的峰值波长确定每个测量点对应的位移值； 将每个测量点对应的位移值转化为空间位置； 对所有的测量点的空间位置进行拟合，确定被测曲面的曲面轮廓。

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