合肥康芯威存储技术有限公司余玉获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利存储芯片测试数据的配置系统及配置方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120164517B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510645020.2，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权存储芯片测试数据的配置系统及配置方法是由余玉;许展榕设计研发完成，并于2025-05-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本存储芯片测试数据的配置系统及配置方法在说明书摘要公布了：本发明提出存储芯片测试数据的配置系统及配置方法，配置系统包括：控制单元，用于控制至少一个功能模块进行工作，并向存储芯片写入初始测试数据，并监控进行工作的功能模块中的功能节点；初始测试数据包括多种测试指令；控制单元统计每个工作的功能模块中每个功能节点执行测试指令的工作次数；功能模块的功能节点每执行一次测试指令，其工作次数加一；控制单元根据预设的阈值区间、每个功能节点对应的工作次数，在初始测试数据中调整测试指令数量，以使每个功能节点对应的工作次数位于阈值区间内时，将调整后的初始测试数据生成目标测试数据。本发明可减少存储芯片测试时间及测试成本。
本发明授权存储芯片测试数据的配置系统及配置方法在权利要求书中公布了：1.一种存储芯片测试数据的配置系统，其特征在于，包括： 芯片测试座，用于安装存储芯片；所述存储芯片包括多个功能模块，每个所述功能模块对应多个功能节点，所述功能节点表示执行测试指令的最小执行单元； 控制单元，用于控制至少一个所述功能模块进行工作，并向所述存储芯片写入初始测试数据，并监控进行工作的功能模块中的功能节点；所述初始测试数据包括多种测试指令； 所述控制单元统计每个工作的功能模块中每个功能节点执行测试指令的工作次数；所述功能模块的功能节点每执行一次测试指令，其工作次数加一； 所述控制单元根据预设的阈值区间、每个功能节点对应的工作次数，在所述初始测试数据中调整测试指令数量，以使每个功能节点对应的工作次数位于所述阈值区间内时，将调整后的测试数据生成目标测试数据。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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