买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉南通芯好半导体有限公司申请的专利结合应用场景的芯片测试分选方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119511034B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411659887.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权结合应用场景的芯片测试分选方法及系统是由张伟设计研发完成，并于2024-11-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本结合应用场景的芯片测试分选方法及系统在说明书摘要公布了：本申请提供了一种结合应用场景的芯片测试分选方法及系统，涉及芯片测试分选技术领域，包括：执行模拟测试指标集的关联特征溯源，确定多个关联特征集；基于多个关联特征集对多个样本芯片信息集进行特征提取和特征聚类，构建多个特征矩阵库；根据实际测试指标集对目标芯片进行实际检测，通过多个特征矩阵库对目标芯片进行模拟检测，输出实际检测结果和模拟检测结果。通过本申请可以解决现有芯片测试分选方法，由于无法根据应用场景设置相匹配测试指标，同时在芯片测试过程中，由于测试条件的局限性，无法对某些指标进行直接测试，导致芯片测试结果的精准性和可靠性较差的技术问题，可以达到提高芯片测试结果全面性、准确性和可靠性的效果。

本发明授权结合应用场景的芯片测试分选方法及系统在权利要求书中公布了：1.结合应用场景的芯片测试分选方法，其特征在于，包括： 获取目标芯片的应用场景信息，基于芯片属性信息，以所述应用场景信息为条件约束，以预期筛选指标为质量约束，通过工业互联网进行同源信息检索，确定芯片测试指标集； 识别所述芯片测试指标集，确定实际测试指标集和模拟测试指标集，其中，模拟测试指标为当前测试条件不能满足测试需求的指标类型； 执行所述模拟测试指标集的关联特征溯源，确定多个关联特征集，其中，关联特征标识有关联度； 以芯片属性信息和满足模拟测试指标为约束，检索获取多个样本芯片信息集，基于所述多个关联特征集对所述多个样本芯片信息集进行特征提取和特征聚类，结合所述关联度构建多个特征矩阵库； 根据所述实际测试指标集对目标芯片进行实际检测，通过所述多个特征矩阵库对目标芯片进行模拟检测，输出实际检测结果和模拟检测结果； 基于所述实际检测结果和所述模拟检测结果对目标芯片进行分选； 其中，所述确定芯片测试指标集，包括： 所述应用场景信息至少包括应用设备、工作负载和环境参数，所述预期筛选指标至少包括使用寿命、数据处理能力和性能稳定性； 以芯片属性信息为元件约束，以应用设备、工作负载和环境参数为条件约束，以满足使用寿命且满足数据处理能力且满足性能稳定性为质量约束，通过工业互联网进行同源信息检索，得到多个样本芯片测试指标集； 随机选取第一样本芯片测试指标集，计算第一样本指标均值，提取大于第一样本指标均值的指标构建第一标准测试指标集，并选择第一标准测试指标集的众数设定为第一芯片测试指标，添加至所述芯片测试指标集； 其中，所述确定多个关联特征集，包括： 构建芯片特征库，其中，芯片特征至少包括半导体材料、导电材料、绝缘材料、封装材料、电路布局、电路通道、封装特征、焊接特征、引线框架、物理结构、层堆叠特征和散热配置； 在所述模拟测试指标集中随机选取第一模拟测试指标，将所述第一模拟测试指标与所述芯片特征库中的多个芯片特征分别进行关联性分析，确定多个关联度； 选取关联度大于预定关联阈值的芯片特征设定为第一关联特征，构建第一关联特征集，添加至所述多个关联特征集。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人南通芯好半导体有限公司，其通讯地址为：226000 江苏省南通市崇川区唐闸镇街道市北高新路259号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。