深圳宏芯宇电子股份有限公司陈雪莹获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳宏芯宇电子股份有限公司申请的专利可自监控使用寿命的测试装置获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223230127U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202422393855.7,技术领域涉及:G11C29/56;该实用新型可自监控使用寿命的测试装置是由陈雪莹;张嘉祐设计研发完成,并于2024-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本可自监控使用寿命的测试装置在说明书摘要公布了:本实用新型提供一种可自监控使用寿命的测试装置,可避免由测试座老化所造成的不良影响,并提升测试结果的正确性。测试装置包括处理器、多个测试座、多个计数模块以及多个显示模块。多个测试座耦接处理器。多个计数模块分别耦接多个测试座及处理器。多个显示模块分别耦接多个计数模块。处理器用以接收测试指令,并根据测试指令产生并输出测试信号。多个测试座分别用以基于测试信号对受测组件进行测试。多个计数模块分别用以在接收到测试信号之后,将计数值递增一,并根据计数值产生并输出计数信号。多个显示模块分别用以接收计数信号,并基于计数信号显示计数值。
本实用新型可自监控使用寿命的测试装置在权利要求书中公布了:1.一种可自监控使用寿命的测试装置,其特征在于,包括: 处理器,用以接收测试指令,并根据所述测试指令产生并输出测试信号; 多个测试座,耦接所述处理器,分别用以基于所述测试信号对受测组件进行测试; 多个计数模块,分别耦接所述多个测试座以及所述处理器,并分别用以在接收到所述测试信号之后,将计数值递增一,并根据所述计数值产生并输出计数信号;以及 多个显示模块,分别耦接所述多个计数模块,并分别用以接收所述计数信号,并基于所述计数信号显示所述计数值。
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