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龙图腾网获悉天津商业大学申请的专利一种应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118500594B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410698487.9，技术领域涉及：G06F17/15；该发明授权一种应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法及系统是由康凯;李文慧;吕欣烨;郝学敏;张倩;牛润禾设计研发完成，并于2024-05-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法及系统，对受力试件采用欠采样方法获取至少一组太赫兹时域欠采样光谱数据，对太赫兹时域欠采样光谱数据进行处理，获取用于描述应力调制导致的欠采样误差的误差函数，对误差函数进行处理，计算应力调制系数和太赫兹信号峰值位置变化量，根据应力调整系数和太赫兹时域光谱的峰值位置变化量计算试件应力。本发明的有益效果是有效减少采样窗口，减小延迟线的位移，提高测量速度，大大缩短测量时间，同时保证应力测量精度。

本发明授权一种应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法，其特征在于：对受力试件采用欠采样方法获取至少一组太赫兹时域欠采样光谱数据，对所述太赫兹时域欠采样光谱数据进行处理，获取用于描述应力调制导致的欠采样误差的误差函数，对所述误差函数进行处理，计算应力调制系数和太赫兹信号峰值位置变化量，根据所述应力调整系数和太赫兹时域光谱的峰值位置变化量计算试件应力； 对所述太赫兹时域欠采样光谱数据进行处理，获取用于描述应力调制导致的欠采样误差的误差函数时，包括： 获取不受力试件的太赫兹时域光谱数据； 对不受力试件的太赫兹时域光谱数据和受力试件的太赫兹时域欠采样光谱数据采用多项式插值法进行处理，获取处理后的不受力试件的太赫兹时域光谱数据和处理后的受力试件的太赫兹时域光谱数据； 建立所述误差函数，计算所述误差函数的局部极小值； 建立误差函数步骤中，包括： 获取处理后的不受力试件的太赫兹时域光谱数据中一段数据S’c0t，该数据S’c0t与处理后的受力试件的太赫兹时域欠采样光谱数据等长，处理后的受力试件的太赫兹时域欠采样光谱数据为S’t； 建立所述误差函数ErrA,Δt，所述误差函数ErrA,Δt表达式为： 其中，A为应力调制系数，Δt为太赫兹时域光谱的峰值位置变化量，Δt＝t1-t0，t1为数据S’c0t的起始时间坐标，t0为处理后的受力试件的太赫兹时域欠采样光谱数据的起始时间坐标，S’t为处理后的受力试件的太赫兹时域欠采样光谱数据。

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