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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利单纳米颗粒表面电势的测量装置以及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118376611B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410479983.5，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权单纳米颗粒表面电势的测量装置以及测量方法是由单旭晨;王帆;钟晓岚设计研发完成，并于2024-04-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本单纳米颗粒表面电势的测量装置以及测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种单纳米颗粒表面电势的测量装置以及测量方法，属于纳米颗粒测量技术领域，包括成像机构、图像采集器、电场施加机构以及计算主机；成像机构包括与图像采集器相对设置的显微物镜和激发光源，与显微物镜相对设置有样品台，图像采集器与显微物镜之间设置有滤光组件；电场施加机构包括设置在样品台上的电极板，电极板连接有电压调节器；图像采集器和电压调节器均与计算主机相连接，采用上述一种单纳米颗粒表面电势的测量装置以及测量方法，实现了单纳米颗粒表面电势的检测。

本发明授权单纳米颗粒表面电势的测量装置以及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于单纳米颗粒表面电势的测量装置的测量方法，其特征在于：所述装置包括成像机构、图像采集器、电场施加机构以及计算主机； 成像机构包括与图像采集器相对设置的显微物镜和激发光源，与显微物镜相对设置有样品台，图像采集器与显微物镜之间设置有滤光组件； 电场施加机构包括设置在样品台上的电极板，电极板连接有电压调节器； 图像采集器和电压调节器均与计算主机相连接； 滤光组件包括依次设置的第一滤光片和第二滤光片，第一滤光片为二向色镜且与激发光源相对设置，第二滤光片设置在图像采集器与第一滤光片之间； 所述测量方法，具体步骤如下： 步骤S1：将待测纳米颗粒溶液放至样品台； 步骤S2：启动激发光源，激发光源通过二向色镜和显微物镜到达样品台，并通过光镊捕获其中一个待测纳米颗粒，产生的荧光信号通过显微物镜、二向色镜以及第二滤光片到达图像采集器，并通过图像采集器采集N个初始图像； 步骤S3：启动电压调节器，使得电极板产生设定电场强度的均匀电场，待测纳米粒子在均匀电场作用下发生偏移，再次通过图像采集器采集N个偏移后图像； 步骤S4：计算偏移距离，根据N个初始图像和N个偏移后图像的荧光点分别得出初始中心点和偏移后中心点，初始中心点和偏移后中心点的差值为偏移距离； 步骤S5：根据电场强度与偏移距离计算出待测纳米颗粒表面电势的大小。

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