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上海微电机研究所(中国电子科技集团公司第二十一研究所)王兆广获国家专利权

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龙图腾网获悉上海微电机研究所(中国电子科技集团公司第二十一研究所)申请的专利一种表面缺陷检测方法、装置、设备及其存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN117197081B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202311158805.4,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权一种表面缺陷检测方法、装置、设备及其存储介质是由王兆广;祝鲁宁;杜文斌;何春来;王卫军设计研发完成,并于2023-09-08向国家知识产权局提交的专利申请。

一种表面缺陷检测方法、装置、设备及其存储介质在说明书摘要公布了:本申请公开了一种表面缺陷检测方法、装置、设备及其存储介质,涉及缺陷检测技术领域。所述方法包括:基于初始图像、平移窗口和平移步长,获取多个子图像;基于多个子图像,获取与各个子图像相对应的缺陷检测框;基于各个缺陷检测框,获取缺陷检测结果。本申请通过将尺寸较大的初始图像分割成为多个尺寸较小的子图像,以使现有技术中的表面缺陷检测方法能够适用于各个尺寸较小的子图像。获取各个子图像获取表面缺陷检测结果后,再将各个子图像的表面缺陷检测结果融合形成初始图像的表面缺陷检测结果。以解决现有技术中的表面缺陷检测方法不适用于尺寸较大的初始图像的表面缺陷检测的技术问题。

本发明授权一种表面缺陷检测方法、装置、设备及其存储介质在权利要求书中公布了:1.一种表面缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括: 基于初始图像、平移窗口和平移步长,获取多个子图像;所述平移窗口的长度小于所述初始图像的长度,且所述平移窗口的高度小于所述初始图像的高度;所述初始图像预先获取;所述平移窗口和所述平移步长预先设定或者基于所述初始图像生成;所述平移窗口沿所述初始图像长度方向上的平移步长小于等于所述平移窗口的长度;所述平移窗口沿所述初始图像高度方向上的平移步长小于等于所述平移窗口的高度; 基于多个子图像,获取与各个子图像相对应的缺陷检测框; 基于各个缺陷检测框,获取缺陷检测结果; 所述基于各个缺陷检测框,获取缺陷检测结果包括: 基于各个缺陷检测框,获取至少一个缺陷检测分组;每个缺陷检测分组中至少具有一个缺陷检测框,且每个缺陷检测分组中的各个缺陷检测框的缺陷标签相同; 获取第一缺陷检测分组;所述第一缺陷检测分组为各个缺陷检测分组中未进行冗余比对处理的分组; 获取所述第一缺陷检测分组中各个缺陷检测框的置信度; 基于各个缺陷检测框的置信度,更新所述第一缺陷检测分组,获取当前缺陷检测分组; 基于各个当前缺陷检测分组中的各个缺陷检测框,获取缺陷检测结果; 所述基于各个缺陷检测框的置信度,更新所述第一缺陷检测分组,获取当前缺陷检测分组包括: 基于各个缺陷检测框的置信度,获取第一缺陷检测框;所述第一缺陷检测框为所述第一缺陷检测分组中未进行交互比对处理的,且置信度最高的缺陷检测框; 基于所述第一缺陷检测框,按照置信度由高到低的顺序,依次获取所述第一缺陷检测分组中各个缺陷检测框与所述第一缺陷检测框的交互比; 所述交互比是指两个区域交集区域面积与并集区域面积的比值; 若缺陷检测框的交互比大于第一阈值,则删除该缺陷检测框,直至所述第一缺陷检测分组中所有的缺陷检测框均进行交互比对处理后,更新所述第一缺陷检测分组,获取第二缺陷检测分组,所述第一阈值预先设定; 基于所述第二缺陷检测分组,获取所述当前缺陷检测分组; 所述基于所述第二缺陷检测分组,获取所述当前缺陷检测分组包括: 基于所述第二缺陷检测分组,获取第二缺陷检测框和第三缺陷检测框;所述第二缺陷检测框和所述第三缺陷检测框为所述第二缺陷检测分组中未进行重叠比对处理的缺陷检测框; 基于所述第二缺陷检测框和所述第三缺陷检测框,获取所述第二缺陷检测框的重叠比和所述第三缺陷检测框的重叠比; 所述重叠比是指两个缺陷检测框之间所形成的重叠区域与该缺陷检测框的面积比值; 若所述第三缺陷检测框的重叠比大于第二阈值,且所述第二缺陷检测框的重叠比小于第二阈值,则删除所述第三缺陷检测框;若所述第二缺陷检测框的重叠比大于第二阈值,且所述第三缺陷检测框的重叠比小于第二阈值,则删除所述第二缺陷检测框;直至所述第二缺陷检测分组中所有的缺陷检测框均进行重叠比对处理后,更新所述第二缺陷检测分组,获取第三缺陷检测分组,所述第二阈值预先设定; 基于所述第三缺陷检测分组,获取所述当前缺陷检测分组。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人上海微电机研究所(中国电子科技集团公司第二十一研究所),其通讯地址为:200233 上海市徐汇区虹漕路30号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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