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龙图腾网获悉苏州华碧微科检测技术有限公司申请的专利一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114994576B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210564434.9，技术领域涉及：G01R31/66；该发明授权一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置及测试方法是由请求不公布姓名设计研发完成，并于2022-05-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置及测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及连接器领域，公开了一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置，包括测试板和设置在测试板上的第一参考线路和测试线路，所述第一参考线路的长度是测试线路长度的两倍。在本发明中的第一参考线路的长度是测试线路长度的两倍，也就是说采用参考线路trace2倍率于测试线路trace的长度，能够有效降低外接SMA或SMK接口质量水准的不同而引入的损耗，提高测试精度，连接器净插入损耗更接近真实值。

本发明授权一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种板端射频连接器净插入损耗的测试方法，其特征在于：所述方法基于测试装置实现，所述装置包括：包括测试板和设置在测试板上的第一参考线路和测试线路，所述第一参考线路的长度是测试线路长度的两倍；所述第一参考线路包括一对第一连接头和第一连接线，所述第一连接头安装在测试板上，所述第一连接线的两端分别连接在对应的第一连接头上；所述第一连接线呈U形结构； 所述测试线路包括第二连接头、第二连接线和连接器，所述第二连接头安装在测试板上，所述第二连接线的一端与第二连接头相连，所述第二连接线的另一端与连接器的一端相连，所述第一连接线的长度是第二连接线的长度的两倍；所述装置还包括第二参考线路和第三参考线路，所述第二参考线路包括一对第三连接头、以及连接在第三连接头之间的第三连接线，所述第三连接头均安装在测试板上，所述第三连接线与第二连接线等长；所述第三参考线路的长度是第二连接线的长度的两倍，所述第三参考线路连接在连接器的另一端； 所述方法包括以下测试步骤： 获取参考插入损耗IL参考； 获取测试插入损耗IL测试； 计算出连接器的净插入损耗IL连接器：IL连接器=IL测试-n*IL参考，其中，n为实数； 所述参考插入损耗包括第一参考路线插入损耗IL参考1、第二参考线路插入损耗IL参考2以及第三参考线路插入损耗的插入损耗IL参考3； 当参考插入损耗为第一参考路线插入损耗IL参考1时，则连接器的净插入损耗为： IL连接器=IL测试-12IL参考1； 所述参考插入损耗为第二参考路线插入损耗IL参考2时，则连接器的净插入损耗为： IL连接器=IL测试-IL参考2； 所述参考插入损耗为第一参考线路插入损耗IL参考1和第三参考线路插入损耗的插入损耗IL参考3时，则连接器的净插入损耗为： IL连接器=IL测试-12IL参考2-12IL参考3。

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