深圳市西部创芯信息科技有限公司韦祎获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市西部创芯信息科技有限公司申请的专利IC功率测试用探针装置获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223244669U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202422075105.5,技术领域涉及:G01R1/067;该实用新型IC功率测试用探针装置是由韦祎设计研发完成,并于2024-08-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本IC功率测试用探针装置在说明书摘要公布了:本申请涉及一种IC功率测试用探针装置,包括:两个探针装置与纠偏装置;每个探针装置均包括:探针架与两个以上的探针;两个以上的探针设置在探针架上,且两个以上的探针的检测端朝向相同;纠偏装置包括:纠偏架与两个以上的纠偏凸脊;两个以上的纠偏凸脊依次排列在纠偏架的一侧,且每相邻两个纠偏凸脊之间均设有间隙以使探针能够穿入相邻两个纠偏凸脊之间的间隙,并在穿入间隙后与穿插在间隙中的被测IC引线电连接;两个探针装置分别位于纠偏装置的两侧且其中一个探针装置的探针的检测端与另一个探针装置的探针的检测端相对设置。探针定位简单、测试效率高、探针接触被测IC引线快速且稳定性强。
本实用新型IC功率测试用探针装置在权利要求书中公布了:1.一种IC功率测试用探针装置,其特征在于,包括:两个探针装置与纠偏装置; 每个所述探针装置均包括:探针架与两个以上的探针;两个以上的所述探针设置在所述探针架上,且两个以上的所述探针的检测端朝向相同; 所述纠偏装置包括:纠偏架与两个以上用于固定IC功率测试中的被测IC引线的纠偏凸脊;两个以上的所述纠偏凸脊依次排列在所述纠偏架的一侧,且每相邻两个所述纠偏凸脊之间均设有间隙以使所述探针能够穿入相邻两个所述纠偏凸脊之间的间隙,并在穿入所述间隙后与穿插在所述间隙中的被测IC引线电连接; 两个所述探针装置分别位于所述纠偏装置的两侧且其中一个所述探针装置的所述探针的检测端与另一个所述探针装置的所述探针的检测端相对设置,其中一个所述探针装置的所述探针探入任两个相邻的纠偏凸脊之间且与所述被测IC引线的一侧接触,另一个所述探针装置的所述探针贯穿所述纠偏架与所述被测IC引线的另一侧接触。
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