海光信息技术(成都)有限公司刘勋获国家专利权
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龙图腾网获悉海光信息技术(成都)有限公司申请的专利一种芯片、芯片的测试方法及电子设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118585387B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410635785.3,技术领域涉及:G06F11/22;该发明授权一种芯片、芯片的测试方法及电子设备是由刘勋;柳磊设计研发完成,并于2024-05-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片、芯片的测试方法及电子设备在说明书摘要公布了:本申请实施例提供一种芯片、芯片的测试方法及电子设备,其中芯片包括多个芯粒,所述多个芯粒包括互连的第一芯粒以及第二芯粒;所述第一芯粒包括第一片上存储器、以及控制所述第一片上存储器的控制器;所述第二芯粒包括第二片上存储器;其中,所述控制器输出的控制信息向所述第一片上存储器传递,以及通过连接所述第一芯粒与第二芯粒的第一互连接口,向所述第二芯粒传递;当所述第二芯粒选择使用所述控制信息控制所述第二片上存储器时,所述控制器是否获得所述第二片上存储器对于所述控制信息的响应结果,表示所述第一芯粒与第二芯粒的第一互连接口的连接是否正常。本申请实施例可使得芯片测试能够覆盖芯粒之间的连接,提升芯片的测试覆盖面。
本发明授权一种芯片、芯片的测试方法及电子设备在权利要求书中公布了:1.一种芯片,其特征在于,包括多个芯粒,所述多个芯粒包括互连的第一芯粒以及第二芯粒; 所述第一芯粒包括第一片上存储器、以及控制所述第一片上存储器的控制器;所述第二芯粒包括第二片上存储器; 其中,所述控制器输出的控制信息向所述第一片上存储器传递,以及通过连接所述第一芯粒与第二芯粒的第一互连接口,向所述第二芯粒传递;当所述第二芯粒选择使用所述控制信息控制所述第二片上存储器时,所述控制器是否获得所述第二片上存储器对于所述控制信息的响应结果,表示所述第一芯粒与第二芯粒的第一互连接口的连接是否正常; 所述控制器包括设置于所述第一芯粒的存储控制器以及第一测试控制器;所述存储控制器产生控制所述第一片上存储器的访问控制信息,所述第一测试控制器产生测试所述第一片上存储器的第一测试控制信息; 其中,所述第一测试控制器产生的第一测试控制信息传递到所述存储控制器;所述存储控制器用于从所述访问控制信息以及所述第一测试控制信息,选择输出的控制信息;所述存储控制器输出的控制信息作为所述控制器输出的控制信息。
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