桂林电子科技大学;深圳市艾贝特电子科技有限公司李文杰获国家专利权
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龙图腾网获悉桂林电子科技大学;深圳市艾贝特电子科技有限公司申请的专利一种基于多频率相位融合的高反光表面三维重构方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115638745B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210895770.1，技术领域涉及：G01B11/25；该发明授权一种基于多频率相位融合的高反光表面三维重构方法是由李文杰;李团兴;高兴宇;檀正东;邓仕超;黄扬设计研发完成，并于2022-07-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于多频率相位融合的高反光表面三维重构方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光学三维成像技术领域，具体涉及一种基于多频率相位融合的高反光表面三维重构方法，基于三频外差时间相位展开技术，从高频条纹组计算展开相位，并基于随机采样一致性算法建立平面约束，找出因高反光引起的噪声点，采用基于平面约束的离散点去除技术，分割出受高反光影响的相位点；同时，基于低频条纹和高频条纹对反射的敏感度不一样，采用低频率相位求解获取离群点的相位；将各种频率获取的相位进行融合即可获得完整的高反光表面相位图，最后基于标定参数实现高反光表面的三维重构，不必提前寻找曝光区域，解决三维重构中高反光表面容易出现过曝区域的技术问题。
本发明授权一种基于多频率相位融合的高反光表面三维重构方法在权利要求书中公布了：1.一种基于多频率相位融合的高反光表面三维重构方法，其特征在于，包括下列步骤： 投影仪投影多组三频外差的正弦条纹； 相机采集多组所述三频外差的正弦条纹的条纹图像； 基于相移法求解对每组所述条纹图像的折叠相位，并基于三频外差获取展开相位； 基于RANSAC三维点平面拟合找出高频组展开相位中的噪声点； 在低频组中计算所述噪声点的展开相位，并根据频率关系计算等效相位； 融合高频组和低频组的展开相位，并基于标定参数进行三维重构； 融合高频组和低频组的展开相位的过程中，以第1组高频率的三频外差为基础，高反光区域采用低频率的三频外差计算等效相位，从而实现相位融合。
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