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龙图腾网获悉长春理工大学申请的专利一种红外辐射模拟源系统的辐射强度测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120176858B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510661309.3，技术领域涉及：G01J5/53；该发明授权一种红外辐射模拟源系统的辐射强度测量方法是由刘智;郗浚涵;白杨杨;杨阳;刘广文;李旭;董英杰;郭星辰;俞晓彤设计研发完成，并于2025-05-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种红外辐射模拟源系统的辐射强度测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种红外辐射模拟源系统的辐射强度测量方法，属于红外辐射特性测量技术领域。首先，对红外辐射模拟源系统与红外探测器进行辐射定标操作；利用中波红外光学系统及红外探测器接收红外辐射信号，并通过光学斩波器调制，将连续辐射转换为交变信号提高测量信噪比。采集的交变信号经滤波增益放大电路处理以增强信号稳定性。随后采用卡尔曼滤波算法对测量数据进行动态去噪和状态估计，并结合中波红外辐射系数修正算法进行非线性误差补偿，从而获得高精度的辐射强度校正系数。相比传统方法，本发明结合自适应滤波与辐射强度修正技术，提高了测量精度和实时性，可广泛应用于红外光学测试、目标特性分析及辐射计量领域。

本发明授权一种红外辐射模拟源系统的辐射强度测量方法在权利要求书中公布了：1.一种红外辐射模拟源系统的辐射强度测量方法，其特征在于，该方法包括如下步骤： 步骤1：辐射定标：首先利用标准面源黑体对红外探测器进行全波段定标，获得面源黑体与红外探测器之间的辐射强度响应关系；随后在待测红外辐射模拟源的两个中波红外波段下进行二次定标，建立双波段下的红外探测器输出信号与红外辐射强度之间的响应关系； 步骤2：光电转换：将待测红外辐射模拟源预热至稳定工作状态，经中波红外光学系统聚焦后，由定标后的红外探测器接收辐射能量，并转换为对应的电信号； 步骤3：信号预处理：对步骤2得到的电信号进行滤波、增益放大和调制处理，得到高性噪比信号； 步骤4：算法修正：采用卡尔曼滤波算法对步骤3得到的高信噪比信号进行动态信号优化，并结合中波红外辐射系数修正算法，补偿非线性误差，建立检测电压与辐射强度的映射关系； 步骤5：数据输出：通过步骤4的检测电压与辐射强度的映射关系计算得到的红外辐射强度参数并上传至测量系统的上位机软件，实时显示并存储测量结果； 步骤4中所述结合中波红外辐射系数修正算法，补偿非线性误差，建立检测电压与辐射强度的映射关系，具体方法如下： 在测量系统对每个给定测量波段内的目标辐射强度进行估算时，将探测器光谱响应对视作一个常数，基于此，定义辐射强度校正系数Cdet，将Rdetλ视作常数进行计算，从而对系统测得的信号进行修正，提高辐射强度反演的准确性； 辐射强度校正系数Cdet为： Cdet＝Rdetλ·τopt11 因此中波红外辐射系数修正后的红外辐射强度和的计算式为： 对于Cdet的求解，采用线性定标模型，暂不考虑探测器的光谱响应率，仅考虑滤光片光谱透过率和电路的增益K，计算目标辐射强度； 故最终的定标模型V*为： 其中τfil为规定波段的光谱透过率； Gfil为双波段测量系统对仅考虑滤光片光谱透过率的目标辐射强度响应，此处在不同温度下对红外辐射强度进行理论计算，并得到探测器所输出的电压，对两者进行拟合，得到Gfil，通过以下公式： 进而得到辐射强度校正系数修正后的加入滤光片后黑体辐射强度等效辐射强度IBNλ,Tb： 代入得: 其中，dλ为波长上的一个无穷小变化，ds为探测器上一个无穷小面积元素，Vb为面源黑体的红外辐射强度，Tb为面源黑体工作温度，GA为红外探测器对入射辐射强度的响应率，△λ为红外探测器的响应范围,Rdet为红外探测器的光谱响应,τopt为中波红外光学系统的透过率，K为电路的增益，Lbλ,Tb为温度为Tb时面源黑体的辐射亮度，△s是探测面上的面元面积；Vb1和Vb2分别代表3.5μm～4μm与4.5μm～4.8μm波段下的面源黑体红外辐射强度，τfil1和τfil2分别为两波段的光谱透光率， 和分别为两波段时探测器对目标辐射强度的响应率； 通过上述修正后的等效辐射强度VBN的计算式，进一步用于验证目标辐射源在各测量波段下辐射强度定标曲线的精度。

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