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龙图腾网获悉西安理工大学申请的专利一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120177443B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510640434.6，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统是由杜斌;王瀚;杨柯楠;尹梦伟;王赛男;金豆豆;裴翌廷;周世生设计研发完成，并于2025-05-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统，包括会聚部、二向色镜、荧光会聚镜、入射狭缝、光谱仪，其中光谱仪包括第一凹面反射镜、闪耀光栅、第二凹面反射镜，所述会聚部包括沿光路依次排列的第一透镜和第二透镜，所述第一凹面反射镜和所述第二凹面反射镜为离轴凹面反射镜，通过会聚透镜会聚后的光束经过所述材料样品，样品经过光束激发后产生荧光，经过所述二向色镜反射后经过所述会聚透镜，会聚后光束经过所述入射狭缝入射至第一凹面反射镜反射后，经所述闪耀光栅进行光束分光，分光后经所述第二凹面反射镜，最后经探测部探测。本发明的光致发光光谱仪的材料检测光学系统能够实现宽光谱范围的材料光学分析或测试，且具有小型化、轻量化的优点。

本发明授权一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统在权利要求书中公布了：1.一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统，其特征在于，所述一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统包括： 激光器，沿光路依次排列的由第一透镜（11）和第二透镜（12）组成的第一会聚部（1），二向色镜（2），荧光会聚镜（3），入射狭缝（4），由第一凹面反射镜（5），闪耀光栅（6）以及第二凹面反射镜（7）组成的第二反射部，探测部（8）； 所述第一透镜（11）、所述第二透镜（12）、荧光会聚镜（3）均为球面镜，所述第一凹面反射镜（5）以及所述第二凹面反射镜（7）均为离轴凹面反射镜； 经所述第一会聚部（1）会聚后的光束经过材料样品，样品经过光束激发后产生荧光，经过所述二向色镜（2）反射后经过所述荧光会聚镜（3），会聚后光束经过所述入射狭缝（4）入射至第一凹面反射镜（5）反射后，经所述闪耀光栅（6）进行光束分光，分光后经所述第二凹面反射镜（7），最后经探测部（8）探测； 所述第二反射部的光焦度为Φ57，材料检测光学系统的光焦度为Φ，满足如下关系：0.32Φ57Φ0.7；所述激光器至样品的光程为L1，所述激光器至探测部（8）的光程为L，其满足如下关系：3.3≤L1L≤4.5； 所述第一会聚部（1）能够会聚激光器发出的光束入射至样品表面，所述第一会聚部（1）的光焦度Φ1，所述第一透镜（11）的光焦度Φ11，所述第二透镜（12）的光焦度Φ12，所述材料检测光学系统的光焦度为Φ，其满足如下关系：Φ11=Φ12，0.1≤Φ1Φ≤0.25； 所述荧光会聚镜（3）的光焦度Φ3，所述材料检测光学系统的光焦度为Φ，其满足如下关系：满足0.08≤Φ3Φ≤0.2； 所述第一凹面反射镜（5）曲率R1，倾斜角度为θ2，偏心量为Y1其满足如下关系，满足-0.025≤R1≤-0.01，10°≤θ2≤15°，13.5≤Y1≤15； 所述第二凹面反射镜（7）曲率R2，倾斜角度为θ4，偏心量为Y2其满足如下关系：-0.02≤R2≤-0.01，75°≤θ4≤85°，-28≤Y2≤-20； 所述第一凹面反射镜（5）曲率R1，所述第二凹面反射镜（7）曲率R2，其满足如下关系0.8≤R2R1≤1。

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