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龙图腾网获悉北京清微智能科技有限公司申请的专利一种3DIC的iJTAG测试互联结构获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120064950B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510549631.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种3DIC的iJTAG测试互联结构是由李玉江;王欣欣;管庆翰;欧阳鹏;李秀冬;王博设计研发完成，并于2025-04-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种3DIC的iJTAG测试互联结构在说明书摘要公布了：本申请提供了一种3DIC的iJTAG测试互联结构，涉及芯片测试技术领域，包括：垂直堆叠的多个芯片裸片；每个芯片裸片包括测试访问端口控制器；各测试访问端口控制器通过串联方式构成测试控制路径，以统一协调测试任务，测试任务包括对多个芯片裸片进行测试和对单个芯片裸片进行测试；最底层的芯片裸片配置测试数据输入端口和测试数据输出端口；测试数据输入端口接收测试数据并将其传输至待测的芯片裸片的测试访问端口控制器；部分芯片裸片中设置TDOMUX模块，该模块的选择端由其所属的芯片裸片的测试访问端口控制器控制。本申请能显著减少测试端口和芯片面积资源消耗，高效完成单独芯片测试或多芯片联测，提高整体测试的灵活性与效率。

本发明授权一种3DIC的iJTAG测试互联结构在权利要求书中公布了：1.一种3DIC的iJTAG测试互联结构，其特征在于，包括：垂直堆叠的多个芯片裸片； 每个所述芯片裸片包括测试访问端口控制器；各芯片裸片的测试访问端口控制器通过串联方式构成测试控制路径，以统一协调所述多个芯片裸片的测试任务，所述测试任务包括对所述多个芯片裸片进行测试和对单个芯片裸片进行测试； 最底层的芯片裸片配置测试数据输入端口和测试数据输出端口；所述测试数据输入端口接收测试数据并将所述测试数据传输至待测的芯片裸片的测试访问端口控制器进行处理； 部分所述芯片裸片中设置TDOMUX模块，所述TDOMUX模块的选择端由其所属的芯片裸片的测试访问端口控制器控制，以控制测试数据的输出路径； 所述测试访问端口控制器包括状态机，所述状态机用于根据输入的控制信号切换测试模式； 当对所述多个芯片裸片进行测试时，每个所述芯片裸片的测试访问端口控制器通过状态机切换至INTEST模式，以控制其对应的嵌入式仪器；当对单个芯片裸片进行测试时，待测的芯片裸片下方的芯片裸片中的测试访问端口控制器通过状态机切换至BYPASS模式，以使测试数据传递至待测的芯片裸片。

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