买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉合肥秀强智能科技有限公司申请的专利一种全固态无机电致变色玻璃制备方法及监测调控系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119797773B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510068183.9，技术领域涉及：C03C17/34；该发明授权一种全固态无机电致变色玻璃制备方法及监测调控系统是由康敏;李秀秀设计研发完成，并于2025-01-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种全固态无机电致变色玻璃制备方法及监测调控系统在说明书摘要公布了：本发明提供的一种全固态无机电致变色玻璃制备方法及监测调控系统，涉及玻璃制备技术领域，包括：APCVD沉积膜层：在玻璃基板上镀制第一导电膜层；在第一导电膜层上镀制第一绝缘层；在第一绝缘层上镀制主变色层，得到电致变色层；PVD沉积膜层：在电致变色层上镀制第二绝缘层；在第二绝缘层上镀制电致变色存储层；在电致变色存储层上镀制第二导电层。本发明通过结合APCVD与PVD工艺，实现了设备投资和材料成本的双重降低，通过APCVD工艺的精确控制与PVD工艺的高沉积速率相结合，提高了有效沉积速度，确保了膜层的均匀性和质量，且通过在电致变色层两侧增加两个绝缘层，有效减少了漏电现象，降低了能源损耗，减缓膜层的老化过程。

本发明授权一种全固态无机电致变色玻璃制备方法及监测调控系统在权利要求书中公布了：1.一种全固态无机电致变色玻璃制备方法，其特征在于，包括以下步骤： S1，玻璃基板制备； S2，APCVD沉积膜层： S21，在所述玻璃基板上镀制第一导电膜层； S22，在所述第一导电膜层上镀制第一绝缘层； S23，在所述第一绝缘层上镀制主变色层，得到电致变色层； S3，PVD沉积膜层： S31，在所述电致变色层上镀制第二绝缘层； S32，在所述第二绝缘层上镀制电致变色存储层； S33，在所述电致变色存储层上镀制第二导电层； 并且，所述制备方法还包括用于调控制备过程的监测调控系统，所述监测调控系统包括数据采集传输模块、数据分析调控模块、调整与优化模块： 数据采集传输模块，用于采集APCVD沉积与PVD沉积任一膜层时在对应反应室或设备的镀制信息； 数据分析调控模块，包括时区划分单元、镀制状态分析单元、厚度及光学变化分析单元、信息汇总分析处理单元； 时区划分单元，用于将APCVD沉积或PVD设备沉积对应膜层的初始时刻标记为第一时刻，将第一时刻与当前时刻之间的时间区域标记为膜层镀制时区； 镀制状态分析单元，用于对APCVD沉积与PVD沉积任一膜层时在对应反应室或设备的镀制信息分别进行镀制分析，得到镀制分析结果；其中，镀制分析结果包括镀制信息中参数的预设差值、预设差均值、预设波动值、预设极差值、预设差影值与对应的调整信令以及对应的动态调整系数； 其中，预设差影值的获取逻辑为： 根据APCVD沉积与PVD沉积任一膜层时在对应反应室或设备的镀制信息中任一参数的预设值；将镀制信息中任一参数与参数的预设值进行差值计算得到预设差值；识别膜层镀制时区内所有采集时刻的预设差值，将膜层镀制时区内的预设差值进行均值、标准差、最大值与最小值计算，得到预设差均值、预设波动值、预设极差值； 将预设差值、预设差均值、预设波动值、预设极差值进行加权计算得到预设差影值； 厚度及光学变化分析单元，用于对APCVD沉积与PVD沉积任一膜层时的膜层厚度和光学特性进行分析，具体为： 获取膜层镀制时区内所有采集时刻的APCVD沉积、PVD沉积任一膜层时的膜层厚度；将相邻采集时刻的膜层厚度进行差值计算得到膜厚变化值； 将膜层镀制时区内的膜厚变化值进行均值、标准差计算得到膜厚变化均值、膜厚波动值； 获取该膜层的预设厚度，识别膜层镀制时区内膜层厚度的最大值与预设厚度进行差值计算得到预期厚差值； 将当前时刻的膜厚变化值与膜厚变化均值、膜厚波动值、预期厚差值进行加权计算得到膜厚影响值； 获取膜层镀制时区内所有采集时刻APCVD沉积、PVD沉积膜层上的光学特性信息；光学特性信息包括膜层在特定波长的光透射率、反射率和吸收率； 构建光透射率、反射率和吸收率随波长变化的曲线图，识别曲线图中对应的光透射率、反射率和吸收率的曲线；采用数值分析方法计算曲线的平滑度； 识别膜层镀制时区内所有采集时刻的光透射率、反射率和吸收率对应曲线的平滑度；计算膜层镀制时区内光学特性信息中任一参数对应曲线的平滑度的统计指标，包括平均值、方差、最大值、最小值；设定光学特性信息中任一参数对应曲线的平滑合格值，将光学特性信息中任一参数对应曲线的平滑度与其平滑合格值进行差值计算得到平滑合格差值； 将平滑合格差值与平滑度的统计指标进行加权计算得到平滑影响值； 再通过峰值检测算法识别曲线中的特征峰，分析特征峰在膜层镀制时区内峰位的移动情况与强度增减情况，得到峰位移动速率、峰位强度影响值； 将平滑影响值、峰位移动速率、峰位强度影响值进行加权计算，得到光学特性信息中参数对应的参综影值； 再将光学特性信息中所有参数的参综影值进行加权计算得到光特综影值； 信息汇总分析处理单元，用于将镀制信息中参数的预设差影值、膜厚影响值、光特综影值进行加权处理得到相互影响系数；在接收到参数对应的调整信令时，使用预设差影值、相互影响系数计算参数的动态调节系数； 将镀制信息中参数的调整信令以及对应的动态调节系数标记为动态调节参数； 调整与优化模块，用于接收动态调节参数；依据动态调节参数执行相应的调整操作。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人合肥秀强智能科技有限公司，其通讯地址为：230000 安徽省合肥市新站区铜陵北路与东方大道东北角新悦里G11幢203室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。