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龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利一种用于低温形变测量的3D-DIC测量系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120252560B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510744994.6，技术领域涉及：G01B11/16；该发明授权一种用于低温形变测量的3D-DIC测量系统及方法是由杨宝玉;唐晓;吴亦农;单成栋;李杰;李玉涵设计研发完成，并于2025-06-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于低温形变测量的3D-DIC测量系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种用于低温形变测量的3D‑DIC测量系统及方法，涉及全场位移测量技术领域，包括真空容器、真空与温度控制系统、被测对象安装支架、视窗组件、DIC测量仪器、回转工作台、控制与记录计算机；首先在试验前操作中，制备被测面散斑图案，安装3D‑DIC测量系统，完成测量环境的准备；在测量试验操作中，对DIC测量仪器调节视场和曝光，标定DIC测量仪器，调节试验工况，分别在不同工况下采集被测面的散斑图案；在数据处理中，根据散斑图案计算被测面各点位移，拟合得到刚体位移，最终获得低温形变值。本发明具有全场测量、避免真空环境复杂结构标定的优点。

本发明授权一种用于低温形变测量的3D-DIC测量系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于低温形变测量的3D-DIC测量系统，其特征在于，包括真空容器、真空与温度控制系统、被测对象安装支架、视窗组件、DIC测量仪器、支撑装置、控制与记录计算机，在放置被测对象的真空容器的外部进行测量；真空与温度控制系统控制真空容器形成真空低温环境，模拟空间环境，控制被测对象温度，使被测对象处于不同的工况；DIC测量仪器透过视窗组件观测被测对象上的被测面，在被测对象处于不同工况时，采集被测面的散斑图像，记录在控制与记录计算机中；控制与记录计算机处理散斑图像，根据图像间相关性，得到被测对象的全场位移，根据多点的位移数据拟合得到被测面的位移，进一步得到低温形变；所述被测面为不共面的多组平面，包括外壳上和冷光学通道内部的平面；DIC表示数字图像相关； 所述真空容器在真空与温度控制系统的控制下提供低温辐射背景； 所述被测对象设置在被测对象安装支架上，被测对象安装支架安装在真空容器上，用于连接真空容器和被测对象；被测对象安装支架在被测对象的被测面处设有开口，用于安装视窗组件； 利用控制与记录计算机，根据被测面的散斑图案计算被测面上各点在不同工况相对于初始工况的位移； 通过拟合得到相对于初始工况点的位移对应平面的表达式，所述拟合采用最小二乘法； 根据拟合平面方程以及平面中心点坐标，计算得到不同工况相对于初始工况的被测面的平动角度和偏转角度； 根据各被测面的平动角度和偏转角度，计算低温形变的平动分量和转动分量。

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