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龙图腾网获悉浙江昆二晶半导体有限公司申请的专利平板式晶闸管性能检测方法及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120254551B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510724737.6，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权平板式晶闸管性能检测方法及设备是由陈宣建;陈泽鹏设计研发完成，并于2025-06-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本平板式晶闸管性能检测方法及设备在说明书摘要公布了：本发明涉及晶闸管性能检测领域，尤其涉及平板式晶闸管性能检测方法及设备，包括测试机，所述测试机包括底架，所述底架顶部安装有工作台，所述工作台顶部安装有机罩，所述机罩内部安装有极限测试组件，所述底架内部设置有测试复温组件；所述极限测试组件用于对待测晶闸管进行温度极限测试；所述测试复温组件用于在温度极限测试后对待测晶闸管进行复温；所述极限测试组件包括密封罩，所述密封罩滑动连接在机罩内上部，本发明长导料通道形成温度梯度区间，使元件从密封罩内的极限温度通过空气对流与橡胶丝热阻隔，以每分钟5‑10℃的速率渐进降至室温，防止因温差骤变产生的热应力导致内部结构开裂，提升元件测试后的完整性。

本发明授权平板式晶闸管性能检测方法及设备在权利要求书中公布了：1.平板式晶闸管性能检测设备，包括测试机（1），其特征在于：所述测试机（1）包括底架（102），所述底架（102）顶部安装有工作台（121），所述工作台（121）顶部安装有机罩（101），所述机罩（101）内部安装有极限测试组件，所述底架（102）内部设置有测试复温组件； 所述极限测试组件用于对待测晶闸管（115）进行温度极限测试； 所述测试复温组件用于在温度极限测试后对待测晶闸管（115）进行复温； 所述极限测试组件包括密封罩（103），所述密封罩（103）滑动连接在机罩（101）内上部，所述密封罩（103）两侧均固定连接有滑块（123），所述滑块（123）中部均贯穿并螺纹连接有螺纹杆（124），所述螺纹杆（124）顶部均固定连接有伺服电机，所述机罩（101）内侧壁两侧均开设有多个滑槽（109），所述滑块（123）滑动连接在滑槽（109）内侧，所述工作台（121）顶端中部外侧开设有密封槽（120），所述密封槽（120）与密封罩（103）底部相对应，所述工作台（121）顶端中部固定连接有绝缘板（118），所述测试复温组件包括底仓（125），所述底仓（125）开设在底架（102）前侧下部，所述底仓（125）内后侧壁中部开设有出料口（108），所述出料口（108）与导料通道（126）内部相连通，所述底仓（125）内前侧安装有电动封闭门（105），所述底仓（125）内侧中下部安装有横架（107），所述底仓（125）内两侧壁上部均安装有温控模块（106），所述温控模块（106）均与电热器与半导体制冷器相连通，所述横架（107）中部开设有导槽（128），所述导槽（128）内侧滑动连接有滑架（127），所述滑架（127）前后部均贯穿有丝杠（129），所述丝杠（129）均安装在滑架（127）内前后侧，所述滑架（127）顶端中部安装有均匀分布的温度传感器（130）。

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