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龙图腾网获悉深圳市曼恩斯特科技股份有限公司申请的专利超声波面密度测量方法、系统及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120121465B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510600435.8，技术领域涉及：G01N9/24；该发明授权超声波面密度测量方法、系统及设备是由龙兵;彭建林设计研发完成，并于2025-05-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本超声波面密度测量方法、系统及设备在说明书摘要公布了：本发明提供了一种超声波面密度测量方法、系统及设备，涉及超声波测量领域，该方法利用多个采样点能够精确计算出超声波信号的偏移角，从而在超声波面密度测量设备的使用过程中因待测物体移动导致的采集点偏移进行实时信号补偿，从而显著提高测量精度，提升生产效率。

本发明授权超声波面密度测量方法、系统及设备在权利要求书中公布了：1.一种超声波面密度测量方法，其特征在于，所述方法应用于超声波面密度测量设备中，所述方法包括： 按照预设发射频率控制所述超声波面密度测量设备向待测物体发射脉冲式的超声波后，控制所述超声波面密度测量设备中的接收换能器实时接收经过所述待测物体后的超声波信号； 基于所述接收换能器对应的采集参数在所述超声波信号的单一周期内采集多个采样点，并将所述多个采样点中振幅最大的采样点确定为第一采样点； 确定所述第一采样点相邻的第二采样点，并根据所述第一采样点和所述第二采样点的坐标数据计算所述超声波信号的偏移角； 通过所述偏移角生成所述待测物体的角度补偿策略，并基于所述角度补偿策略控制所述超声波面密度测量设备对所述待测物体进行面密度测量； 所述基于所述接收换能器对应的采集参数在所述超声波信号的单一周期内采集多个采样点，并将所述多个采样点中振幅最大的采样点确定为第一采样点，包括： 利用所述接收换能器对应的采集频率确定所述超声波面密度测量设备对应的脉冲宽度调制曲线； 获取所述脉冲宽度调制曲线中对应的脉冲宽度，并基于所述脉冲宽度确定所述采集参数； 确定所述超声波信号中单一周期对应的余弦曲线，利用所述采集参数在所述余弦曲线中采集多个采样点，并将所述多个采样点中振幅最大的采样点确定为第一采样点； 所述通过所述偏移角生成所述待测物体的角度补偿策略，并基于所述角度补偿策略控制所述超声波面密度测量设备对所述待测物体进行面密度测量，包括： 基于所述余弦曲线对应的坐标系确定所述余弦曲线的振幅位置，并确定所述第一采样点与所述振幅位置之间的相位差； 利用所述偏移角和所述相位差生成所述待测物体的角度补偿策略，并基于所述角度补偿策略生成所述超声波面密度测量设备对应的测量参数，使得所述超声波面密度测量设备在当前所述测量参数下所述第一采样点与所述振幅位置重合； 利用所述测量参数控制所述超声波面密度测量设备对所述待测物体进行面密度测量。

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