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龙图腾网获悉苏州博众半导体有限公司申请的专利基于自适应测量矩形框的芯片引脚测量方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118032797B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211373879.5，技术领域涉及：G01N21/95；该发明授权基于自适应测量矩形框的芯片引脚测量方法和装置是由杨敏;梁坤设计研发完成，并于2022-11-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于自适应测量矩形框的芯片引脚测量方法和装置在说明书摘要公布了：本发明公开一种基于自适应测量矩形框的芯片引脚方法和装置，其中方法包括：获取待测量芯片的图片；基于获取的待测量芯片的图片，确定第一兴趣区域，并求解第一兴趣区域的最小外接矩形；计算最小外接矩形的四个角点并依次对四个角点排序，第一兴趣区域的任一周侧的引脚分别与排序后的四个角点中的其中两个角点对应；选取第一兴趣区域的任一周侧的所有目标引脚，并基于目标引脚对应的两个角点的位置和目标引脚的参考参数值，绘制目标引脚的自适应测量矩形框；基于自适应测量矩形框，确定第二兴趣区域，并求取第二兴趣区域内的引脚边缘；基于引脚边缘，获取目标引脚的数据。能够降低测量难度，减少计算量，提升测量结果的可靠性和稳定性。

本发明授权基于自适应测量矩形框的芯片引脚测量方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种基于自适应测量矩形框的芯片引脚测量方法，其特征在于，包括： 获取待测量芯片的图片，待测量芯片包括芯片主体和芯片主体周侧的引脚； 基于获取的待测量芯片的图片，确定第一兴趣区域，并求解第一兴趣区域的最小外接矩形； 计算最小外接矩形的四个角点并依次对四个角点排序，第一兴趣区域的任一周侧的引脚分别与排序后的四个角点中的其中两个角点对应； 选取第一兴趣区域的任一周侧的所有目标引脚，并以目标引脚对应的两个角点为基准，并由两个角点分别沿第一方向平移一定的偏移量，得到两个第一偏移点，以两个第一偏移点为端点的连线作为自适应测量矩形框的中线，以预设第一阈值作为自适应测量矩形框的宽度，根据中线和宽度绘制自适应测量矩形框； 截取自适应测量矩形框及自适应测量矩形框内的引脚部分，并采用双线性插值放大，得到第二兴趣区域，求解自适应测量矩形框与引脚部分的交点，采用极值法，连接相应的交点，得到引脚边缘； 遍历第二兴趣区域内的引脚边缘，每相邻的两个引脚边缘组成一对边缘对，计算边缘对中的两个边缘之间的间距以及相邻的边缘对之间的间距，判断边缘对中的两个边缘之间的间距是否超过预设参考值W±23P，若超过，放弃该对边缘对，并将该对边缘对中的两个边缘之间的间距置为零，储存数据，将边缘对中的两个边缘之间的间距记为引脚的宽度，相邻的边缘对之间的间距记为每两个相邻引脚之间的间距。

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