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龙图腾网获悉上海致景信息科技有限公司申请的专利一种双分支面料缺陷检测方法、存储介质及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115358967B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210816951.0，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种双分支面料缺陷检测方法、存储介质及电子设备是由陈钟浩;管瑞峰;胡钊滨;姚海杰;黄婷设计研发完成，并于2022-07-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种双分支面料缺陷检测方法、存储介质及电子设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种双分支面料缺陷检测方法，本发明针对网络架构采用双网络的架构方法，可以有效地提高检测结果的精度；利用深度学习神经网络基于图像内容比对的方式进行坯布缺陷检测，可以大幅提高了不明显缺陷检的特征表示，这种特征表示的提取加入了良品的数据，在深度学习的网络有更加丰富的数据信息，且使用图像金字塔对图像的尺寸进行变换，能够提取到尺寸更小的缺陷。

本发明授权一种双分支面料缺陷检测方法、存储介质及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种双分支面料缺陷检测方法，其特征在于：包括以下步骤： S1、获取良品坯布的三通道的良品图片； S2、获取待检测坯布的三通道的待检测图片； S3、将所述良品图片和待检测图片进行拼接，得到六通道的图像数据矩阵； S4、将所述图像数据矩阵输入预先训练好的目标检测神经网络模型，得到若干包含第一置信度的第一边界框； S5、将所述图像数据矩阵再次输入所述目标检测神经网络模型，得到若干包含第二置信度的第二边界框； S6、将若干所述第一边界框和若干所述第二边界框合并生成第一边界框集；所述第一边界框集包含多个边界框及其对应的置信度； S7、剔除所述第一边界框集中置信度小于置信度阈值的边界框，得到对应的第二边界框集； S8、计算所述第二边界框集中任意两个边界框的交并比，生成对应的重叠度； S9、判断该第二边界框集中任意两个边界框的重叠度是否均小于重叠度阈值：若为否，则执行步骤S10；若为是，则执行步骤S11； S10、筛选出第二边界框集中置信度最大的边界框，记为最大边界框；将该最大边界框从所述第二边界框集中剔除，得到对应的第三边界框集；将该最大边界框和第三边界框集中各个边界框对应的重叠度与重叠度阈值进行比较，将该第三边界框集中剔除重叠度大于或等于重叠度阈值的边界框后的边界框集更新为新的第二边界框集，并返回步骤S9； S11、对所有最大边界框以及该第二边界框集中的各个边界框分别调整坐标和尺寸，得到各个边界框所对应的回归窗口，根据各个回归窗口的坐标和尺寸，确定待检测图片中对应的缺陷的坐标和尺寸。

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