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龙图腾网获悉中国科学院上海高等研究院申请的专利X射线吸收谱的能量校准方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120369751B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510856665.0，技术领域涉及：G01N23/085；该发明授权X射线吸收谱的能量校准方法是由陈雨;李炯;张硕;甘涛;高倩设计研发完成，并于2025-06-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本X射线吸收谱的能量校准方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种X射线吸收谱的能量校准方法，包括：提供一种X射线吸收谱仪，包括单色器、第一电离室和第二电离室；对待测样品进行X射线吸收谱实验，以得到待测样品的吸收系数随单色器角度的变化曲线及其对应的第一电离室测得的X射线的强度随单色器角度的变化曲线；确定单色器晶体Glitch点处的单色器角度；确定待测样品的单色器晶体Glitch点处的单色器角度对应的单色光的能量；确定单色器Glitch点处的布拉格角度；待测样品的单色器角度与布拉格角度之间的映射关系；确定待测样品的单色器角度与单色光的能量之间的对应关系；将待测样品的吸收系数随单色器角度的变化曲线转换为待测样品的吸收系数随单色光的能量的变化曲线。

本发明授权X射线吸收谱的能量校准方法在权利要求书中公布了：1.一种X射线吸收谱的能量校准方法，其特征在于，包括以下步骤： S100：提供一种X射线吸收谱仪，包括沿X射线传输方向依次设置的单色器、第一电离室和第二电离室； S200：将待测样品放置在所述第一电离室和所述第二电离室之间，并对所述待测样品进行X射线吸收谱实验，以得到所述待测样品的吸收系数随单色器角度的变化曲线以及所述待测样品对应的第一电离室测得的X射线的强度随单色器角度的变化曲线； S300：根据所述待测样品对应的第一电离室测得的X射线的强度随单色器角度的变化曲线确定单色器晶体Glitch点处的单色器角度； S400：基于预先获取的单色器晶体Glitch点的能量数据库确定所述待测样品的单色器晶体Glitch点处的单色器角度对应的单色光的能量； S500：基于所述待测样品的单色器晶体Glitch点处的单色器角度对应的单色光的能量和布拉格公式确定单色器Glitch点处的布拉格角度； S600：基于单色器晶体Glitch点处的单色器角度与布拉格角度确定所述待测样品的单色器角度与布拉格角度之间的映射关系，作为第一映射关系； S700：基于布拉格公式和所述第一映射关系，确定所述待测样品的单色器角度与单色光的能量之间的对应关系； S800：基于所述待测样品的单色器角度与单色光的能量之间的对应关系，将所述待测样品的吸收系数随单色器角度的变化曲线转换为所述待测样品的吸收系数随单色光的能量的变化曲线。

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