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龙图腾网获悉杭州君谋科技有限公司申请的专利一种矩阵可控开关故障自检与寿命预测系统及工作方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120178016B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510646450.6，技术领域涉及：G01R31/327；该发明授权一种矩阵可控开关故障自检与寿命预测系统及工作方法是由王睿;董玉君;陈元正设计研发完成，并于2025-05-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种矩阵可控开关故障自检与寿命预测系统及工作方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种矩阵可控开关故障自检与寿命预测系统及工作方法，属于矩阵开关非侵入式测试领域，包括由矩阵开关单元、待测电路组件以及功能测试单元组成的测试模块、非侵入式矩阵自检模块以及寿命预测与数据记录模块；其中，矩阵开关单元包含个矩阵开关，为待测电路组件的测试点总数，为功能测试单元接入测试点的总数，为共用列线数；矩阵开关单元与非侵入式矩阵自检模块相连；非侵入式矩阵自检模块与寿命预测与数据记录模块相连。采用上述一种矩阵可控开关故障自检与寿命预测系统及工作方法，通过非侵入式自检、矩阵优化、智能预测模型和精准故障定位，实现了电路组件测试的高效性、安全性与智能化。

本发明授权一种矩阵可控开关故障自检与寿命预测系统及工作方法在权利要求书中公布了：1.一种矩阵可控开关故障自检与寿命预测系统，其特征在于：包括由矩阵开关单元、待测电路组件以及功能测试单元组成的测试模块、非侵入式矩阵自检模块以及寿命预测与数据记录模块；其中，矩阵开关单元包含个矩阵开关，为待测电路组件的测试点总数，为功能测试单元接入测试点的总数，为共用列线数； 矩阵开关单元与非侵入式矩阵自检模块相连，用于实时测量成对矩阵开关的导通电阻； 非侵入式矩阵自检模块与寿命预测与数据记录模块相连，用于存储时间戳以及对应的导通电阻数据，并输出故障预警以及寿命预测结果； 矩阵开关单元为由根行线和根共用列线交叉连接组成的可控开关网络结构，共用列线与待测电路组件相连，行线与功能测试单元相邻； 非侵入式矩阵自检模块包括两根引线，两根引线分别连接共用列线的上列线和下列线； 当矩阵开关单元包括偶数根共用列线时，两根引线各连接根共用列线；当矩阵开关单元包括奇数共用列线时，两根引线各连接以及根共用列线； 寿命预测与数据记录模块包括时序数据库、寿命预测模型和预警模型； 时序数据库用于存储各矩阵开关的导通电阻值、测量时间戳及对应的开关编号； 寿命预测模型包括基于电阻变化率的寿命预测模型和基于深度学习的状态预测模型，用于预测矩阵开关单元剩余寿命和使用状态； 预警模型用于根据寿命预测模型输出结果触发双重预警信号； 利用寿命预测模型输出寿命预测结果，且寿命预测模型表达式如下： （2）； 其中， （3）； 式中，表示成对矩阵开关导通电阻值的预测模型；、、、均为回归系数；、、和均为幂次指数；为初始电阻值；、、分别为初期阶段、中期阶段和后期阶段的增长系数；、分别为初期阶段的结束时间和中期阶段的结束时间；为电阻增加的加速程度；表示导通电阻变化率。

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