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龙图腾网获悉杭州欣俊哲微电子有限公司申请的专利一种图像模板匹配方法及监测系统、装置、存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119888279B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411919523.6，技术领域涉及：G06V10/75；该发明授权一种图像模板匹配方法及监测系统、装置、存储介质是由田健;曾元;刘尚军;张富原;李福祥设计研发完成，并于2024-12-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种图像模板匹配方法及监测系统、装置、存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种图像模板匹配方法及监测系统、装置、存储介质，包括：获取采集图像和模板图像；至少通过第一特征匹配模型和第二特征匹配模型分别对采集图像的各个特征点进行提取；特征点数据归一化处理并且合并成采集特征数据合集；根据单应矩阵H将采集特征数据合集中的各个特征点和模板特征数据合集中的各个特征点相互配对以得到多个匹配点组，所述匹配点组中包括满足对极几何约束条件的采集特征数据合集中的特征点和模板特征数据合集中的特征点；分别对各个匹配点组中采集特征数据合集中的特征点和模板特征数据合集中的特征点进行差异程度计算；根据差异程度信息得出缺陷位置，本设计降低计算负荷，提高分析效率，缩短处理时间。

本发明授权一种图像模板匹配方法及监测系统、装置、存储介质在权利要求书中公布了：1.一种图像模板匹配方法，其特征在于，包括： 获取采集图像和模板图像； 至少通过第一特征匹配模型和第二特征匹配模型分别对采集图像的各个特征点进行提取，以得出第一采集特征数据集和第二采集特征数据集； 将第一采集特征数据集内的特征点数据和第二采集特征数据集的特征点数据归一化处理并且合并成采集特征数据合集；利用随机抽样一致性算法得出单应矩阵H，根据单应矩阵H将采集特征数据合集中的各个特征点和模板特征数据合集中的各个特征点相互配对以得到多个匹配点组，所述匹配点组中包括满足对极几何约束条件的采集特征数据合集中的特征点和模板特征数据合集中的特征点，其中，所述模板特征数据合集中的特征点包括第一模板特征数据集内的特征点数据和第二模板特征数据集的特征点数据经过归一化处理后合并而来，第一模板特征数据集由第一特征匹配模型对模板图像的各个特征点进行提取而得出，第二模板特征数据集由第二特征匹配模型对模板图像的各个特征点进行提取而得出； 分别对各个匹配点组中采集特征数据合集中的特征点和模板特征数据合集中的特征点进行差异程度计算以得出差异程度信息； 根据差异程度信息得出缺陷位置，输出缺陷位置。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人杭州欣俊哲微电子有限公司，其通讯地址为：310000 浙江省杭州市萧山区杭州空港经济区保税路西侧保税大厦184-2室(自主申报)；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。