台湾积体电路制造股份有限公司陈冠群获国家专利权
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龙图腾网获悉台湾积体电路制造股份有限公司申请的专利用于电路探针测试系统的探针卡以及探针头获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223284251U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422130981.3，技术领域涉及：G01R1/04；该实用新型用于电路探针测试系统的探针卡以及探针头是由陈冠群;尚书安;汤凯驿;黄光兴设计研发完成，并于2024-08-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于电路探针测试系统的探针卡以及探针头在说明书摘要公布了：提供一种用于电路探针测试系统的探针卡以及探针头。探针卡包括基板部分、具有多个开口的导引板、以及延伸穿过所述开口的多个探针引脚，所述探针引脚包括配置为在基板部分与被测装置之间传送电力的至少一第一探针引脚、配置为将被测装置电耦合到地的至少一第二探针引脚、以及配置为在被测装置上的接触区域之间传送环回测试信号的至少两个第三探针引脚。低介电常数材料可以位于所述第三探针引脚与导引板之间，以防止第三探针引脚与导引板的相对高介电常数材料之间的直接接触，此可改善环回测试信号的信号完整性。
本实用新型用于电路探针测试系统的探针卡以及探针头在权利要求书中公布了：1.一种用于电路探针测试系统的探针卡，其特征在于，包括： 一基板部分； 一导引板，位于该基板部分下方，该导引板包括穿过该导引板的多个开口；以及 多个探针引脚，延伸穿过该导引板中的该些开口，该些探针引脚包括配置为在该基板部分和一被测装置之间传送电力的至少一第一探针引脚、配置为将该被测装置电耦合到地的至少一第二探针引脚、以及配置为在该被测装置上的多个接触区域之间传送环回测试信号的至少两个第三探针引脚， 其中一低介电常数材料层位于该至少两个第三探针引脚与该导引板之间，该低介电常数材料层的介电常数小于该导引板的介电常数。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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