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龙图腾网获悉武汉大学申请的专利一种同步辐射装置用光栅单色器双轴平行度检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118623803B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410518096.4，技术领域涉及：G01B11/27；该发明授权一种同步辐射装置用光栅单色器双轴平行度检测方法是由陈荣超;唐琳;石应波;刘卯卯;梁柯林;何建华设计研发完成，并于2024-04-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种同步辐射装置用光栅单色器双轴平行度检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种同步辐射装置用光栅单色器双轴平行度检测方法，涉及同步辐射装置用光栅单色器技术领域，包括以下步骤：S1、设计平面工装；S2、测量连续转动过程中工装面夹角数据；S3、依据工装面夹角数据计算两转轴夹角。本发明设计了一套带有高精度激光干涉测距仪的平面工装，通过测量工装平面在绕轴转动过程中的工装面夹角变化，成功计算了转轴夹角，填补了光栅单色器双轴平行度无法精确测量的空白，本发明为同步辐射装置高性能线站的设计与建设提供了理论支撑和技术指导，也可用于指导光栅单色器的结构优化设计。通过测量光栅单色器两转轴上负载的一组平面工装在转动过程中面夹角的变化计算单色器的双轴平行度。

本发明授权一种同步辐射装置用光栅单色器双轴平行度检测方法在权利要求书中公布了：1.一种同步辐射装置用光栅单色器双轴平行度检测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、设计平面工装，所述平面工装用于装载在单色器上，且平面工装由工装F3、工装F上装载的反射平面镜G4、工装E8以及工装E上装载的激光干涉测距仪9组成，单色器由平行分布的光栅单色器中搭载反射镜B的结构件1、反射平面镜B2、光栅单色器转轴C5、光栅单色器中搭载光栅的结构件6、光栅A7以及光栅单色器转轴D10组成，所述光栅单色器中搭载反射镜B的结构件1和光栅单色器中搭载光栅的结构件6分别装载在光栅单色器转轴C5和光栅单色器转轴D10上； S2、测量连续转动过程中工装面夹角数据； S3、依据工装面夹角数据计算两转轴夹角； S4、所述光栅单色器中搭载反射镜B的结构件1顶部还设置有反射平面镜B2，所述光栅单色器中搭载反射镜B的结构件1顶部靠近反射平面镜B2的一侧安装有工装F3，所述光栅单色器中搭载光栅的结构件6靠近光栅A7顶部的一侧安装有工装E8，所述工装E8和工装F3用于测量双轴平行度，所述工装E8上设有工装E上装载的激光干涉测距仪9，且工装E上装载的激光干涉测距仪9包括激光探头一901、激光探头二902和激光探头三903； S5、所述光栅单色器中搭载光栅的结构件6的底部还设置有光栅A7，所述工装F3的上侧设置有用于反射激光的工装F上装载的反射平面镜G4； S6、步骤S3的所述光栅单色器中搭载反射镜B的结构件1、光栅单色器中搭载光栅的结构件6分别与光栅单色器转轴C5、光栅单色器转轴D10紧连接，可通过测量转动过程中工装面夹角的变化，计算出两转轴夹角，从而得出双轴平行度。

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