重庆大学;重庆理工大学刘子涛获国家专利权
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龙图腾网获悉重庆大学;重庆理工大学申请的专利深孔膛线深度检测方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116481452B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310603133.7,技术领域涉及:G01B11/22;该发明授权深孔膛线深度检测方法是由刘子涛;王时龙;郝建军;葛帅帅;郭治铭;杨建军;王宪升;赵红军设计研发完成,并于2023-05-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本深孔膛线深度检测方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种深孔膛线深度检测方法,包括如下步骤:步骤一:获取测量数据:11)将光谱共焦位移传感器安装在一根与待测管件的轴线平行的安装轴上,使光谱共焦位移传感器伸入到待测管件的设定位置后,使光谱共焦位移传感器保持静止、待测管件轴向速度为零;12)驱动待测管件绕安装轴匀速转动一周,在待测管件转动过程中,利用光谱共焦位移传感器对待测管件的内壁进行测量,得到一条反应待测管件内壁与光谱共焦位移传感器之间的距离随着时间变化的曲线;步骤二:获取膛线深度:将所有的波峰段拟合为第一正弦曲线,将所有的波谷段拟合为第二正弦曲线,则得到膛线的深度为:,和分别表示第一正弦曲线和第二正弦曲线的偏距。
本发明授权深孔膛线深度检测方法在权利要求书中公布了:1.一种深孔膛线深度检测方法,其特征在于:包括如下步骤: 步骤一:获取测量数据: 11)将光谱共焦位移传感器安装在一根与待测管件的轴线平行的安装轴上,驱动光谱共焦位移传感器和待测管件沿着待测管件的轴线相对移动,使光谱共焦位移传感器伸入到待测管件的设定位置后,使光谱共焦位移传感器保持静止、待测管件轴向速度为零; 12)驱动待测管件绕安装轴匀速转动一周,在待测管件转动过程中,利用光谱共焦位移传感器对待测管件的内壁进行测量,得到一条反应待测管件内壁与光谱共焦位移传感器之间的距离随着时间变化的曲线; 步骤二:获取膛线深度 在得到的距离-时间曲线中,具有反应不同阴线与光谱共焦位移传感器之间的距离的波峰段和反应不同阳线与光谱共焦位移传感器之间的距离的波谷段,且波峰段和波谷段交替出现; 将所有的波峰段拟合为第一正弦曲线,得到: 将所有的波谷段拟合为第二正弦曲线,得到: 其中,表示由波峰段拟合得到的正弦曲线;表示由波谷段拟合得到的正弦曲线;表示时间;表示幅值;表示角速度;表示初相位;和表示偏距; 则得到膛线深度在光谱共焦位移传感器所在位置的径向截面上的平均值为:。
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