富联裕展科技(深圳)有限公司吴楚辉获国家专利权
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龙图腾网获悉富联裕展科技(深圳)有限公司申请的专利防指纹涂层的修复方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116282944B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211632147.3，技术领域涉及：C03C17/00；该发明授权防指纹涂层的修复方法是由吴楚辉;王仲培;曾伟伦;覃仕辉设计研发完成，并于2022-12-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本防指纹涂层的修复方法在说明书摘要公布了：一种防指纹涂层的修复方法，包括：提供一待修复基板，待修复基板包括基材以及位于基材表面的防指纹涂层，防指纹涂层背离基材的表面具有破损区域，防指纹涂层含有硅氧键；在破损区域先涂覆氢溴酸，再在涂覆完氢溴酸的破损区域涂覆修补液，修补液中包含烷氧基硅烷聚合物，烷氧基硅烷聚合物含有硅氧键；采用激光照射破损区域，以使氢溴酸在激光的照射下催化防指纹涂层中的硅氧键断键以及烷氧基硅烷聚合物中的硅氧键断键，并使断键后的防指纹涂层中的硅氧键与断键后的烷氧基硅烷聚合物中的硅氧键结合，以使修补液修补破损区域。
本发明授权防指纹涂层的修复方法在权利要求书中公布了：1.一种防指纹涂层的修复方法，包括： 提供一待修复基板，所述待修复基板包括基材以及位于所述基材表面的防指纹涂层，所述防指纹涂层背离所述基材的表面具有破损区域，所述防指纹涂层含有硅氧键； 在所述破损区域先涂覆氢溴酸，再在涂覆完所述氢溴酸的所述破损区域涂覆修补液，所述修补液中包含烷氧基硅烷聚合物，所述烷氧基硅烷聚合物含有硅氧键；以及 采用激光照射所述破损区域，以使所述氢溴酸在所述激光的照射下催化所述防指纹涂层中的所述硅氧键断键以及所述烷氧基硅烷聚合物中的所述硅氧键断键，并使断键后的所述防指纹涂层中的所述硅氧键与断键后的所述烷氧基硅烷聚合物中的所述硅氧键结合，以使所述修补液修补所述破损区域。
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