长鑫存储技术有限公司杨杰获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利扫描速度确定方法及装置、电子设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115792559B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211367281.5，技术领域涉及：G01R31/265；该发明授权扫描速度确定方法及装置、电子设备和存储介质是由杨杰设计研发完成，并于2022-11-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本扫描速度确定方法及装置、电子设备和存储介质在说明书摘要公布了：本公开是关于一种扫描速度确定方法及装置、电子设备以及计算机可读存储介质，涉及半导体生产与制造技术领域，可以应用于确定半导体的TVS扫描速度的场景。该方法包括：获取待测试半导体，对待测试半导体施加初始电压，触发待测试半导体产生电位阶跃，阶跃至恒电位态；施加初始电压基于特定扫描速度进行；对处于恒电位态的待测试半导体施加扰动电压，得到处于恒电位态下的待测试半导体的电荷状态；响应于电荷状态处于电荷活动平衡状态，将电荷活动平衡状态下的扫描速度，作为待测试半导体的目标扫描速度。本公开可以根据半导体的当前扫描速度判断半导体是否满足准静态分布，无需再多进行一次实验。
本发明授权扫描速度确定方法及装置、电子设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种扫描速度确定方法，其特征在于，包括： 获取待测试半导体，对所述待测试半导体施加初始电压，触发所述待测试半导体产生电位阶跃，阶跃至恒电位态；所述施加初始电压基于特定扫描速度进行； 对处于恒电位态的待测试半导体施加扰动电压，得到处于恒电位态下的待测试半导体的电荷状态； 响应于所述电荷状态处于电荷活动平衡状态，将所述电荷活动平衡状态下的扫描速度，作为所述待测试半导体的目标扫描速度。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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