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龙图腾网获悉荣耀终端有限公司申请的专利干扰信号的测试方法和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117825822B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211191871.7，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权干扰信号的测试方法和电子设备是由张桐恺;雷奋星设计研发完成，并于2022-09-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本干扰信号的测试方法和电子设备在说明书摘要公布了：本申请实施例适用于静电测试领域，提供一种干扰信号的测试方法和电子设备，应用于静电放电ESD测试系统中，ESD测试系统包括静电发生器、待测电子设备和信号检测设备，该方法包括：获取第一电压信号，第二电压信号和第三电压信号，然后根据第一电压信号、第二电压信号和第三电压信号得到第一检测点和第二检测点之间的第一干扰信号。在本申请的实施例中，通过接入方向不同的第一电压信号和第二电压信号可以对信号检测设备中探头、差分放大模块以及信号检测设备内部的采样电路带来干扰信号进行校正，并通过绝缘装置使得第一检测点和第二检测点之间电路环路中引入的干扰信号进行校正，提高了第一干扰信号的准确性。

本发明授权干扰信号的测试方法和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种干扰信号的测试方法，其特征在于，应用于静电放电ESD测试系统中，所述ESD测试系统包括静电发生器、待测电子设备和信号检测设备，所述待测电子设备上包括第一检测点和第二检测点，所述信号检测设备包括第一探头、第二探头和差分放大模块，所述静电发生器与所述第一检测点连接，所述信号检测设备与所述待测电子设备连接，所述静电发生器用于输出静电信号，所述信号检测设备用于通过所述第一探头和所述第二探头检测所述第一检测点和所述第二检测点之间的信号，所述方法包括： 获取第一电压信号，所述第一电压信号为在第一连接状态所述第一检测点和所述第二检测点之间的信号，所述第一连接状态是指所述第一探头与所述第一检测点连接，且所述第二探头与所述第二检测点连接的连接状态； 获取第二电压信号，所述第二电压信号为在第二连接状态所述第一检测点和所述第二检测点之间的信号，所述第二连接状态是指所述第一探头与所述第二检测点连接，且所述第二探头与所述第一检测点连接的连接状态； 获取第三电压信号，所述第三电压信号为在第三连接状态所述第一检测点和所述第二检测点之间的信号，所述第三连接状态是指在所述第一检测点与所述第二检测点之间通过绝缘装置连接的连接状态； 对第一电压信号与所述第二电压信号作差，得到第四电压信号，所述第四电压信号通过第一公式表示，所述第一公式包括： V1＝△V1-△V2＝VAB+Vloop+Vub_needle*aRingingf； 所述V1表示所述第四电压信号，所述△V1表示所述第一电压信号，所述△V2表示所述第二电压信号，所述VAB表示静电干扰信号，所述Vloop表示所述静电信号在第一探针和第二探针之间的电路环路产生的干扰信号，所述Vub_needle表示所述第一探针和所述第二探针之间的差模干扰信号，所述aRingingf是指预设的校正系数； 其中，所述第一电压通过第二公式表示，所述第二电压信号通过第三公式表示； 所述第二公式包括： △V1＝VAB+Vloop+Vub_needle+Vub_probe+Vcomm*aRingingf； 所述第三公式包括： △V2＝[-VAB+-Vloop+-Vub_needle+Vub_probe+Vcomm]*aRingingf； 所述Vub_probe表示所述信号检测设备通过所述第一探头和所述第二探头之间测试链路引入的差模干扰信号，所述Vcomm表示所述差分放大模块产生的共模干扰信号； 基于所述第三电压信号和所述第四电压信号的差值对所述静电信号在所述第一探针和所述第二探针之间的电路环路产生的干扰信号、所述第一探针和所述第二探针之间的差模干扰信号进行校正，得到第一干扰信号； 其中，所述第三电压信号通过第四公式表示，所述第四公式包括： V2＝Vloop+Vub_needle*aRingingf； 所述V2表示所述第三电压信号。

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