上海交通大学黄梅珍获国家专利权
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龙图腾网获悉上海交通大学申请的专利一种高分辨率散射光谱颗粒粒径测量方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115112533B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210897444.4，技术领域涉及：G01N15/0227；该发明授权一种高分辨率散射光谱颗粒粒径测量方法和系统是由黄梅珍;王志辉;刘天元;于新娜设计研发完成，并于2022-07-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种高分辨率散射光谱颗粒粒径测量方法和系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种高分辨率散射光谱颗粒粒径测量方法和系统，该方法包括：基于Mie散射理论，引入角散射效率因子对待测颗粒的散射光谱进行模拟，根据散射光谱中谱峰位移与颗粒粒径和散射角的关系，选取所要观测的散射谱峰和散射角度；根据散射光谱中谱峰位移与颗粒粒径和散射角的关系，建立谱峰峰值波长与颗粒粒径的关系作为定标模型；测量待测颗粒的散射光谱，并利用所述定标模型确定待测颗粒粒径。本发明只需对测量的散射光谱进行谱峰定位即可实现粒径测量，数据处理简便，且具有极高的测量分辨率。
本发明授权一种高分辨率散射光谱颗粒粒径测量方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种高分辨率散射光谱颗粒粒径测量方法，其特征在于，包括： 基于Mie散射理论，引入角散射效率因子对待测颗粒的散射光谱进行模拟，根据散射光谱中谱峰位移与颗粒粒径和散射角的关系，选取所要观测的散射谱峰和散射角度； 根据散射光谱中谱峰位移与颗粒粒径和散射角的关系，建立谱峰峰值波长与颗粒粒径的关系作为定标模型； 测量待测颗粒的散射光谱，并利用所述定标模型确定待测颗粒粒径； 其中，所述根据散射光谱中谱峰位移与颗粒粒径和散射角的关系，选取所要观测的散射谱峰和散射角度，包括： 将散射光谱的谱峰按照峰宽由大到小的顺序标记为：P1、P2、P3……Pn；按照粒径测量分辨率从高至低的顺序，自最宽峰P1依次选取所要观测的散射谱峰进行波长定位进而测量颗粒粒径；按照粒径测量量程从大到小的顺序，自最窄峰Pn依次选取所要观测的散射谱峰进行波长定位进而测量颗粒粒径；所要观测的散射谱峰根据测量分辨率和量程共同确定。
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