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龙图腾网获悉中检科(北京)化妆品技术有限公司;江苏京东旭科信息技术有限公司申请的专利一种基于X射线荧光光谱的化妆品一致性快速筛查的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115015307B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210766697.8，技术领域涉及：G01N23/223；该发明授权一种基于X射线荧光光谱的化妆品一致性快速筛查的方法是由陈云霞;苏宁;刘振华;郑君;王聪;顾凌郡;于红梅;刘光兴;张凌霄;刘佳媛;赵子俊;张涛;徐新宇;徐媛媛;林诗雯;苏冠群设计研发完成，并于2022-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于X射线荧光光谱的化妆品一致性快速筛查的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于X射线荧光光谱的化妆品一致性快速筛查的方法，包括如下步骤：1取样及上样，设置仪器参数，样品通过X射线照射，得到XRF指纹图谱；2建立化妆品标准样品XRF指纹图谱数据库；3待测样品与标准品XRF指纹图谱相似度分析，包括全元素XRF光谱相似度分析、背景散射谱图相似度分析和XRF综合相似度分析；4待测样品与标准品XRF一致性分析。本发明方法鉴定结果准确、快速，耗时少成本低，特别适用于口岸及市场现场监管要求的快速鉴定场景。

本发明授权一种基于X射线荧光光谱的化妆品一致性快速筛查的方法在权利要求书中公布了：1.一种基于X射线荧光光谱的化妆品一致性快速筛查的方法，其特征在于：包括如下步骤： （1）取样及上样，设置仪器参数，样品通过X射线照射，得到XRF指纹图谱； （2）建立化妆品标准样品XRF指纹图谱数据库：根据步骤（1）建立化妆品标准样品XRF指纹图谱数据库； 选择不少于10批次的同一化妆品样品，分别进行XRF不同能段分析，得到能量谱图和各个特征元素含量； 将原始XRF图谱经过高斯滤波，然后选择计数率最高且在FP算法中拟合优度最好的元素特征峰作为参照峰，XRF软件同样得到其它元素的特征峰计数率； 指纹图谱量化信息参数的选择与确定：a.特征峰的计数率；b.特征峰的计数率与参照峰计数率的比值；c.散射峰的形状与强度分解； （3）待测样品与标准品XRF指纹图谱相似度分析，包括全元素XRF光谱相似度分析、背景散射谱图相似度分析和XRF综合相似度分析； 其中，所述XRF综合相似度分析包括如下步骤： 通过对全元素XRF光谱和背景散射谱图相似度分析，并对两种相似度结果赋予不同权重： 全元素XRF光谱相似度贡献权重f1为0.8；背景散射谱图相似度贡献权重f2为0.2； 合并分析综合相似度计算： ， S：综合相似度； si：全元素XRF光谱、背景散射谱图相似度； fi：全元素XRF光谱、背景散射谱图相似度贡献权重； （4）待测样品与标准品XRF一致性分析：利用建立的化妆品XRF一致性分析方法对实际化妆品样品进行综合相似度比较，根据分析评价表最终评价得出一致性分析结果； 分析评价标准为： 0≤S≤0.5时，产品一致性很差；0.5≤S≤0.7时，产品一致性一般；0.7≤S≤0.8时，产品一致性较高；0.8≤S≤1.0时，产品一致性高。

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