中国科学院合肥物质科学研究院茆智伟获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利大电流测试用可调节熔断能力的熔断器基座获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115206748B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210632225.3，技术领域涉及：H01H85/20；该发明授权大电流测试用可调节熔断能力的熔断器基座是由茆智伟;田贇祥;茆华风;李俊;吴亚楠;卢晶设计研发完成，并于2022-06-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本大电流测试用可调节熔断能力的熔断器基座在说明书摘要公布了：本发明公开了一种大电流测试用可调节熔断能力的熔断器基座，串联于大电流测试平台主回路中，该熔断器基座包括主触头、导电盘、绝缘支柱和熔断器弹性卡扣，其中，主触头与导电盘为一体化结构；绝缘支柱的两端分别固定连接一个导电盘，导电盘上的主触头与母排相连，通过两个导电盘上的主触头将熔断器基座串联在大电流测试平台一次回路的电源输出两端；导电盘的侧面朝向与主触头相反的方向设延伸沿，弹性卡扣紧密焊接在导电盘延伸沿上，熔断器固定于弹性卡扣内。本发明主触头与导电盘为一体设计，使得主触头与导电盘通流能力上一致，且结实耐用，本发明可实现调节熔断器熔断能力，更好的适用于大电流测试主回路，且本发明安装简捷易操作。
本发明授权大电流测试用可调节熔断能力的熔断器基座在权利要求书中公布了：1.大电流测试用可调节熔断能力的熔断器基座，其特征在于，包括主触头、导电盘、绝缘支柱和弹性卡扣； 所述主触头位于导电盘的中间正上方，且所述主触头与导电盘为一体化结构； 所述绝缘支柱与导电盘紧密连接，且所述绝缘支柱与主触头分别位于导电盘的两侧； 所述绝缘支柱的两端分别固定连接一个导电盘； 所述导电盘上的主触头与母排相连，通过两个导电盘上的主触头将熔断器基座串联在大电流测试平台一次回路的电源输出两端； 所述导电盘设延伸沿，所述延伸沿朝向与主触头方向相反；所述弹性卡扣与导电盘延伸沿紧密焊接；熔断器固定于所述弹性卡扣内。
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