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龙图腾网获悉上海市地矿工程勘察(集团)有限公司申请的专利一种直推式取土钻机土壤样品采样深度的修正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114878221B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210621982.0，技术领域涉及：G01N1/08；该发明授权一种直推式取土钻机土壤样品采样深度的修正方法是由潘子安;范宇;李伟;杨志龙设计研发完成，并于2022-06-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种直推式取土钻机土壤样品采样深度的修正方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种直推式取土钻机土壤样品采样深度的修正方法，在该方法中，首先，确定真实地层中每层土壤层的厚度；然后，根据采样回次内土壤样品采集位置至该土壤层层顶的距离、采样回次内土壤样品所在土壤层的厚度以及真实地层中土壤样品所在土壤层的厚度，计算修正后采样回次内土壤样品采集位置到所在土壤层层顶的距离；最后，根据修正后采样回次内土壤样品采集位置到所在土壤层层顶的距离、采样回次数、采样回次长度、采样回次内土壤样品所在土壤层层顶到该采样回次起始位置的距离，计算修正后的土壤样品的采样深度。该方法能够更精确地定位土壤样品所在的地层。

本发明授权一种直推式取土钻机土壤样品采样深度的修正方法在权利要求书中公布了：1.一种直推式取土钻机土壤样品采样深度的修正方法，其特征在于，所述方法包括： 确定真实地层中每层土壤层的厚度，包括采用螺纹钻孔螺旋钻进确定真实地层中每层土壤层的厚度； 根据采样回次内土壤样品采集位置至该土壤层层顶的距离、采样回次内土壤样品所在土壤层的厚度以及真实地层中土壤样品所在土壤层的厚度，计算采样回次内土壤样品采集位置到所在土壤层层顶的修正距离，公式如下： ； 其中，为第i个采样回次内第i个土壤样品采集位置到所在土壤层层顶的修正距离，为第i个采样回次内第i个土壤样品所在土壤层的厚度，为真实地层中第i个土壤样品所在土壤层的厚度，为第i个采样回次内第i个土壤样品采集位置至第i个土壤层层顶的距离； 根据采样回次内土壤样品采集位置到所在土壤层层顶的修正距离、采样回次数、采样回次长度、采样回次内土壤样品所在土壤层层顶到该采样回次起始位置的距离，计算土壤样品的修正采样深度，公式如下： ； 其中，为第i个土壤样品的修正采样深度，n为采样回次数，L为第i个采样回次的长度，为第i个采样回次内第i个土壤样品所在第i个土壤层层顶到该采样回次起始位置的距离，为第i采样回次内第i个土壤样品采集位置到所在第i个土壤层层顶的修正距离。

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