中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))王磊获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利射频器件的数据处理方法、装置、电子设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115032476B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210435547.9，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权射频器件的数据处理方法、装置、电子设备和存储介质是由王磊;方文啸;邵伟恒;黄权;李键坷;来萍;路国光;黄云;恩云飞设计研发完成，并于2022-04-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本射频器件的数据处理方法、装置、电子设备和存储介质在说明书摘要公布了：本申请涉及一种射频器件的数据处理方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取目标射频器件中封装基板的基板测试数据，基板测试数据为对封装基板的第一测试点进行测试后得到的数据；获取装设于封装基板的射频元件的射频测试数据，射频测试数据为对射频元件的第二测试点进行测试后得到的数据，第二测试点所对应的第二测试路径中的至少一部分子路径、与第一测试点所对应的第一测试路径中的至少一部分子路径重合；根据基板测试数据，对射频测试数据进行去嵌入处理，得到目标射频器件的射频特性数据。采用本方法能够提高射频器件的数据处理效率。
本发明授权射频器件的数据处理方法、装置、电子设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种射频器件的数据处理方法，其特征在于，所述方法包括： 获取目标射频器件中封装基板的基板测试数据，所述基板测试数据为对所述封装基板的第一测试点进行测试后得到的数据； 获取装设于所述封装基板的射频元件的射频测试数据，所述射频测试数据为对所述射频元件的第二测试点进行测试后得到的数据，所述第二测试点所对应的第二测试路径中的至少一部分子路径、与所述第一测试点所对应的第一测试路径中的至少一部分子路径重合； 将所述射频测试数据与所述基板测试数据进行矢量相减处理，得到目标射频器件的射频特性数据。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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