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龙图腾网获悉安捷伦科技有限公司申请的专利用于通过光学发射光谱法进行元素识别的方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114585889B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201980101492.4，技术领域涉及：G01J3/443；该发明授权用于通过光学发射光谱法进行元素识别的方法和系统是由D·F·麦卡锡;M·A·伍德设计研发完成，并于2019-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于通过光学发射光谱法进行元素识别的方法和系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种经由光学发射光谱法自动识别样品中一种或多种元素的存在的计算机实现的方法。所述方法包括以下步骤：从所述样品中获得样品光谱数据；针对元素周期表中通过光学发射光谱法可量化的每个元素获得一个或多个预定发射波长的列表，每个预定发射波长与一个或多个潜在干扰发射波长的列表相关联；基于所述发射波长列表确定对应于所述样品光谱数据中的谱峰的一个或多个分析物波长的列表；基于对应于所述分析物波长的一个或多个潜在干扰发射波长的所述列表，针对每个分析物波长确定所述对应谱峰是否具有受到引起光谱干扰的干扰发射波长影响的可能性；通过从所述分析物波长列表中移除对应于具有受到干扰发射波长影响的可能性的谱峰的分析物波长，确定一个或多个分析物波长的经修订的列表；以及基于应用于所述经修订的分析物波长列表的一组判据，确定一种或多种元素存在于所述样品中的置信水平。

本发明授权用于通过光学发射光谱法进行元素识别的方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种经由光学发射光谱法自动识别样品中一种或多种元素的存在的计算机实现的方法，所述方法包括以下步骤： 从所述样品中获得样品光谱数据， 针对元素周期表中通过光学发射光谱法可量化的每个元素获得一个或多个预定发射波长的列表，每个预定发射波长与一个或多个潜在干扰发射波长的列表相关联， 基于所述发射波长列表确定对应于所述样品光谱数据中的谱峰的一个或多个分析物波长的列表， 基于对应于所述分析物波长的一个或多个潜在干扰发射波长的所述列表，针对每个分析物波长确定所述对应谱峰是否具有受到引起光谱干扰的干扰发射波长影响的可能性， 通过从所述分析物波长列表中移除对应于具有受到干扰发射波长影响的可能性的谱峰的分析物波长来确定一个或多个分析物波长的经修订的列表，以及 基于应用于所述经修订的分析物波长列表的一组判据，确定一种或多种元素存在于所述样品中的置信水平。

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