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龙图腾网获悉常州大学申请的专利半导体激光器模组远场图像检测方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116934693B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310837425.7，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权半导体激光器模组远场图像检测方法及装置是由杨长春;张力维;孟天霜;王彭设计研发完成，并于2023-07-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本半导体激光器模组远场图像检测方法及装置在说明书摘要公布了：本申请涉及半导体激光器测试技术领域，公开了一种半导体激光器模组远场图像检测方法及装置。所述方法利用相机拍摄半导体激光器模组发出的光束在透视膜上的成像，获得灰度图像；对所述灰度图像进行矫正、裁剪处理，获得目标图像；确定所述目标图像中每个像素的像素信息，并根据所述像素信息确定所述目标图像的质心位置；根据所述质心位置和所述目标图像的大小，确定目标切线；然后，计算所述目标图像上每个宫格内的均匀度，以及计算每条目标切线上的均一度。本申请实施例中可以每个宫格内的均匀度和每条切线的均一度确定所述半导体激光器模组发出的光束的质量，以确定判断半导体激光器模组的性能。

本发明授权半导体激光器模组远场图像检测方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种半导体激光器模组远场图像检测方法，其特征在于，所述方法包括： 利用相机拍摄半导体激光器模组发出的光束在透视膜上的成像，获得灰度图像； 对所述灰度图像进行矫正、裁剪处理，获得目标图像； 确定所述目标图像中每个像素的像素信息，并根据所述像素信息确定所述目标图像的质心位置； 根据所述质心位置和所述目标图像的大小，确定目标切线； 计算所述目标图像上每个宫格内的均匀度，以及计算每条目标切线上的均一度，以确定所述半导体激光器模组发出的光束的质量； 其中，所述宫格为根据所述目标图像的像素数量预先划分得到的； 所述像素信息包括灰度值；所述计算每条目标切线上的均一度，包括： 根据所述目标切线上经过的所有所述像素，生成第一曲线；所述第一曲线的横坐标为发散角，纵坐标为灰度值； 根据所述第一曲线计算所述目标切线上所有像素的所述灰度值的方差作为所述目标切线的均一度； 所述计算所述目标图像上每个宫格内的均匀度，包括： 计算所述宫格内所有像素的灰度值的标准差作为所述宫格内的均匀度。

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