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龙图腾网获悉北京卫星环境工程研究所申请的专利一种宇航用液体介质真空检漏方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115683479B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211424732.4，技术领域涉及：G01M3/20；该发明授权一种宇航用液体介质真空检漏方法是由郭崇武;史纪军;任国华;孙立臣;孙立志;刘恩均;齐飞飞;张海峰;齐嘉东;张秀廷设计研发完成，并于2022-11-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种宇航用液体介质真空检漏方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种宇航用液体介质真空检漏方法，包括校准系统、漏率测试系统、标准漏孔和辅助抽气系统，校准系统与漏率测试系统均包括机械泵一、电磁阀一、真空插板阀、真空规一和四极质谱计；校准系统还包括前级分子泵、主分子泵、稳压室、抽气小孔一和校准室；漏率测试系统还包括分子泵一、真空容器和被测产品；标准漏孔包括手阀一、抽气小孔二、手阀二、真空规二、手阀三、工质容器和手阀四；辅助抽气系统包括分子泵二、电磁阀二和机械泵二。本发明中，通过测试系统对标准漏孔进行标定，再通过比对的方法实现被测产品的漏率测试，以实现快捷、有效地对存储介质常温常压下为液态并且无检漏口和充气口产品的检漏，并给出有效、可靠的漏率。

本发明授权一种宇航用液体介质真空检漏方法在权利要求书中公布了：1.一种宇航用液体介质真空检漏方法，其特征在于，检漏装置包括校准系统、漏率测试系统、标准漏孔和辅助抽气系统，校准系统与漏率测试系统均包括机械泵一（1）、电磁阀一（2）、真空插板阀（5）、真空规一（6）和四极质谱计（7）； 校准系统还包括前级分子泵（3）、主分子泵（4）、稳压室（8）、抽气小孔一（9）和校准室（10）； 漏率测试系统还包括分子泵一（11）、真空容器（12）和被测产品（13）； 标准漏孔包括手阀一（14）、抽气小孔二（15）、手阀二（16）、真空规二（17）、手阀三（18）、工质容器（19）和手阀四（20）； 辅助抽气系统包括分子泵二（21）、电磁阀二（22）和机械泵二（23）； 其中，校准系统对液体工质标准漏孔的校准包括以下几个步骤： S1、手阀一（14）处于关闭状态，开启校准系统机械泵一（1）、前级分子泵（3）、主分子泵（4）及相应阀门，待校准室（10）压力稳定后，记录真空规一（6）的压力值为P1； S2、手阀一（14）和手阀三（18）处于关闭状态，开启除校准系统外其他真空泵及阀门，抽至极限真空； S3、关闭手阀四（20），打开手阀三（18），观察真空规二（17）达到被测工质常温气相压力； S4、开启手阀一（14），待校准室（10）压力稳定后，记录真空规一（6）的压力值为P2，观察四极质谱计（7）的谱图，记录对应工质质谱的谱峰质量数； S5、通过圆孔流导公式（1） 其中，T——气体温度K； M——被测工质气体摩尔质量kgmol； d——抽气小孔一（9）孔径，已知18mm 得出，抽气小孔一（9）处流导为C 1 ； S6、抽气小孔一（9）处有效抽速S1为： （2） 其中，C 1 ——抽气小孔一（9）处流导m3s； S——主分子泵（4）泵口有效抽速m3s，SC 1 所以，S1≈C 1 ； S7、抽气小孔一（9）处流量Q： （3） 其中，S——抽气小孔一（9）处有效抽速m3s； P——校准室（10）稳定压力值Pa； S8、由于系统质量流量相等，标准漏孔漏率Q0由公式（4）得到： （4） 其中，S——抽气小孔一（9）处有效抽速m3s； P1——关闭手阀一（14）后校准室（10）稳定压力值Pa； P2——打开手阀一（14）后校准室（10）稳定压力值Pa。

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