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天津美腾科技股份有限公司李太友获国家专利权

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龙图腾网获悉天津美腾科技股份有限公司申请的专利一种X光灰分贴边检测工艺获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120028362B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510518025.9,技术领域涉及:G01N23/223;该发明授权一种X光灰分贴边检测工艺是由李太友;宋晨;张涛设计研发完成,并于2025-04-24向国家知识产权局提交的专利申请。

一种X光灰分贴边检测工艺在说明书摘要公布了:本发明涉及灰分检测技术领域,尤其涉及一种X光灰分贴边检测工艺。该工艺包括以下步骤:采集样品并将样品破碎至预设粒度;对破碎后的样品进行整形;对整形后的样品进行形态检测,判断整形后的样品是否符合检测标准;将符合检测标准的样品输送至探测器窗口的下方进行荧光检测,其中,探测器窗口平行于样品顶面,且探测器窗口与样品顶面的间距为0~5mm,得到的灰分检测结果的重复误差精度在±0.4%以内。通过对样品进行破碎、整形及形态检测,使样品的粒度及形态得到限制,从而可以将探测器窗口与样品顶面的间距控制在0~5mm之间,使得到的灰分检测结果的重复误差精度控制在±0.4%以内,提升了检测结果的精确度及稳定性。

本发明授权一种X光灰分贴边检测工艺在权利要求书中公布了:1.一种X光灰分贴边检测工艺,其特征在于,包括以下步骤: 采集样品并将样品破碎至预设粒度; 对破碎后的样品进行整形; 对整形后的样品进行形态检测,判断整形后的样品是否符合检测标准; 将符合检测标准的样品输送至探测器窗口的下方进行荧光检测,获得光谱特征,并根据所述光谱特征计算得到样品的灰分检测结果,其中,探测器窗口平行于样品顶面,探测器窗口与样品顶面的间距为0~5mm,得到的灰分检测结果的重复误差精度在±0.4%以内; 根据探测器窗口与样品顶面的间距和光谱特征之间的映射关系,建立间距监测模型;将获得的样品的光谱特征输入所述间距监测模型,计算得到当前的探测器窗口与样品顶面的间距; 所述荧光检测采用滚动判断方式,每间隔预设时间段进行一次判断,每次判断包括以下步骤: 在预设时间段内,控制探测器以设定时间间隔采集一次光谱数据,一共采集n条光谱数据,其中,n大于或等于2; 对每条所述光谱数据进行归一化处理,得到n条相对光谱数据; 利用聚类筛选将n条所述相对光谱数据分为簇一和簇二; 对簇一和簇二进行计算,获得有煤流光谱特征和或无煤流光谱特征。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人天津美腾科技股份有限公司,其通讯地址为:300450 天津市滨海新区中新生态城中滨大道以南生态建设公寓8号楼1层137房间;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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