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龙图腾网获悉徐州正力永磁科技有限公司申请的专利一种磁片裂纹检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119846050B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411914255.9，技术领域涉及：G01N27/82；该发明授权一种磁片裂纹检测方法及系统是由史雪华;王执国设计研发完成，并于2024-12-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种磁片裂纹检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及磁性材料检测技术领域，具体涉及一种磁片裂纹检测方法及系统，该方法包括：将待检测磁片置于均匀磁场发生装置中进行磁化，磁场的磁场强度根据待检测磁片特性选定；磁化完成后，环绕待检测磁片四周放置独立的霍尔效应传感器同时测量磁片在各个方向上的磁场强度；将得到的磁场强度进行归一化处理并映射为图像像素的灰度值构建磁场强度图像，计算磁场梯度，根据计算得到的磁场梯度确定磁场梯度幅值图像；根据磁场梯度幅值图像设定判定阈值，将大于阈值的部分进行标记确定裂纹区域并计算裂纹参数。本发明通过数据处理结合磁场特性的方法，准确检测出磁片磁场的分布及磁片的裂纹情况，提升了磁片检测的效率、精度以及自动化水平。

本发明授权一种磁片裂纹检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种磁片裂纹检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 步骤S10：将待检测磁片置于均匀磁场发生装置中进行磁化，磁场的磁场强度根据待检测磁片特性选定； 步骤S20：磁化完成后，环绕待检测磁片四周放置独立的霍尔效应传感器同时测量磁片在各个方向上的磁场强度，得到磁场强度数据； 步骤S30：将得到的磁场强度数据进行归一化处理，计算磁场梯度，根据计算得到的磁场梯度确定磁场梯度幅值，并映射为图像像素的灰度值构建磁场梯度幅值图像； 步骤S40：根据磁场梯度幅值图像设定判定阈值，将大于阈值的部分进行标记确定裂纹区域并计算裂纹参数，输出磁片裂纹检测结果； 所述步骤S10中磁场的磁场强度根据待检测磁片特性选定，选定范围为1000Am到5000Am，包含1000Am和5000Am； 所述步骤S20中环绕待检测磁片四周放置独立的霍尔效应传感器同时测量磁片在各个方向上的磁场强度，通过程序控制霍尔效应传感器同步开始工作，并以待测磁片作为原点构建直角坐标系，包括x轴和y轴，测量磁片在各个方向上的磁场强度为在x轴和y轴方向上的磁场强度； 所述步骤S40中输出磁片裂纹检测结果包括无裂纹和存在裂纹；当磁片裂纹检测结果为存在裂纹时，标记出裂纹区域在磁片上所述的位置并显示计算得到的裂纹参数。

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