之江实验室胡勇获国家专利权
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龙图腾网获悉之江实验室申请的专利一种硅光链路的后制造校准与波长动态锁定装置和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120315199B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510797204.0，技术领域涉及：G02F1/01；该发明授权一种硅光链路的后制造校准与波长动态锁定装置和方法是由胡勇;杜清扬;张燕;虞绍良设计研发完成，并于2025-06-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种硅光链路的后制造校准与波长动态锁定装置和方法在说明书摘要公布了：本申请涉及一种硅光链路的后制造校准与波长动态锁定装置和方法，其中，硅光链路的后制造校准与波长动态锁定装置包括：检测模块、温控模块以及与所述温控模块关联的光学相变模块，所述检测模块用于检测第一波长参数；所述温控模块，用于基于第一波长参数与设计波长参数的第一差异信号施加脉冲电压信号，以使所述光学相变模块发生光学相变，实现硅光链路的后制造校准补偿；所述检测模块还用于检测第二波长参数；所述温控模块还用于基于第二波长参数与设计波长参数的第二差异信号施加连续电压信号，以通过热光效应实现对所述硅光链路的波长动态锁定，同时实现了制造后的校准补偿与实际工作中的动态波长调控。
本发明授权一种硅光链路的后制造校准与波长动态锁定装置和方法在权利要求书中公布了：1.一种硅光链路的后制造校准与波长动态锁定装置，其特征在于，所述装置包括：与所述硅光链路中光学器件连接的检测模块，与所述检测模块连接的温控模块以及与所述温控模块关联的光学相变模块， 所述检测模块，用于在后制造校准中检测所述光学器件的第一波长参数，并基于所述第一波长参数与设计波长参数的差异，得到第一差异信号； 所述温控模块，用于接收所述第一差异信号，基于所述第一差异信号施加脉冲电压信号，以使所述光学相变模块发生光学相变，实现硅光链路的后制造校准补偿； 所述检测模块，还用于在工作状态下实时检测所述光学器件的第二波长参数，并基于所述第二波长参数与所述设计波长参数的差异，得到第二差异信号； 所述温控模块，还用于接收所述第二差异信号，并基于所述第二差异信号施加连续电压信号，以通过热光效应实现对所述硅光链路的波长动态锁定。
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