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龙图腾网获悉浙江大学申请的专利一种微波频率与到达角同步测量的硅基集成器件及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120320853B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510801799.2，技术领域涉及：H04B10/54；该发明授权一种微波频率与到达角同步测量的硅基集成器件及测量方法是由谢意维;王泽旭;戴道锌设计研发完成，并于2025-06-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种微波频率与到达角同步测量的硅基集成器件及测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种微波频率与到达角同步测量的硅基集成器件及测量方法。光源用于发出光载波到双平行马赫‑曾德光电强度调制器的输入端，间隔布置的两个雷达天线接收待测微波信号并发送到双平行马赫‑曾德光电强度调制器，双平行马赫‑曾德光电强度调制器将待测微波信号加载到光载波上生成两路光载微波信号并发送到，第一、第二瞬时频率测量单元到达角测量单元，分别进行光载微波信号的频率粗略、精细测量和到达角测量。本发明采用单一结构，实现了雷达微波信号频率与到达角的同步高效测量，显著提升检测效率，解决了片上集成、高精度、轻量化、低功耗且功能强大的微波频率和到达角同时测量的技术问题，增强了系统的实用性与适用范围。

本发明授权一种微波频率与到达角同步测量的硅基集成器件及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种微波频率与到达角同步测量的硅基集成器件，其特征在于： 包括间隔布置的两个雷达天线，连接到双平行马赫-曾德光电强度调制器的电调制端，用于接收外部的待测微波信号并发送到双平行马赫-曾德光电强度调制器（100）； 包括双平行马赫-曾德光电强度调制器（100），用于接收来自外部光源（5）输入的光载波并将雷达天线的待测微波信号加载到光载波上，进而生成两路光载微波信号并发送到用于微波频率与到达角同步测量的测量单元； 包括第一瞬时频率测量单元（200）、到达角测量单元（300）和第二瞬时频率测量单元（400），连接到双平行马赫-曾德光电强度调制器（100）的输出端，分别用于进行光载微波信号的频率粗略测量、到达角测量、频率精细测量； 所述测量单元均包括热调谐微环谐振器、不等臂马赫曾德干涉仪、两个探测模块；不等臂马赫曾德干涉仪输入端经波导和双平行马赫-曾德光电强度调制器的一个输出端连接，不等臂马赫曾德干涉仪输入端的波导的侧旁设置有热调谐微环谐振器，不等臂马赫曾德干涉仪的两个输出端分别连接两个探测模块，不等臂马赫曾德干涉仪内部的干涉臂上设置有延迟线、热电极或微环。

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