武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司刘璐宁获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司申请的专利NED设备双目杂散光补偿、对比度补偿方法、装置及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119135872B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411151830.4，技术领域涉及：H04N13/344；该发明授权NED设备双目杂散光补偿、对比度补偿方法、装置及设备是由刘璐宁;郑增强;欧昌东设计研发完成，并于2024-08-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本NED设备双目杂散光补偿、对比度补偿方法、装置及设备在说明书摘要公布了：本申请属于近眼显示领域，具体公开了涉及一种NED设备双目杂散光补偿、对比度补偿方法、装置及设备，补偿方法包括：确定两个光学显示系统分别点亮预设像素点时的杂散光分布；根据两个光学显示系统在预设像素点处的杂散光分布确定该预设像素点处的杂散光叠加分布；杂散光叠加分布为取两个杂散光分布在每个像素点处亮度的最大值；当预设像素点需要被两个光学显示系统点亮时，根据该像素点处的杂散光叠加分布和各光学显示系统在该像素点处的杂散光分布，控制各光学显示系统对该像素点的杂散光进行补偿，使两个光学显示系统在该像素点处的杂散光分布保持一致。通过本申请，可以有效地将NED设备双目的杂散光补偿为一致，提升用户体验。
本发明授权NED设备双目杂散光补偿、对比度补偿方法、装置及设备在权利要求书中公布了：1.一种近眼显示NED设备双目杂散光补偿方法，所述NED设备包括：两个光学显示系统，两个光学显示系统为：左眼光学显示系统和右眼光学显示系统，其特征在于，方法包括： 确定两个光学显示系统分别点亮预设像素点时的杂散光分布；所述杂散光分布包括：未被点亮像素点处的亮度分布集合； 根据两个光学显示系统在预设像素点处的杂散光分布确定该预设像素点处的杂散光叠加分布；所述杂散光叠加分布为取两个杂散光分布在每个像素点处亮度的最大值； 当所述预设像素点需要被两个光学显示系统点亮时，根据该像素点处的杂散光叠加分布和各光学显示系统在该像素点处的杂散光分布，控制各光学显示系统对该像素点的杂散光进行补偿，使两个光学显示系统在该像素点处的杂散光分布保持一致。
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