西安交通大学张学苏获国家专利权
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龙图腾网获悉西安交通大学申请的专利一种4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116539203B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310518824.7，技术领域涉及：G01L5/00；该发明授权一种4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法是由张学苏;曾学良;张林杰;宁杰;龙健设计研发完成，并于2023-05-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法，涉及分析仪器及材料测试技术领域，包括：将退火态无应力试样以及预加等双轴已知应力的试样装入纳米压痕仪，以待测点为圆心，以2倍晶粒平均尺寸为半径，对进入标记圆内的晶粒进行纳米压痕实验，得到标记圆中每个晶粒内压入的所有压痕数据；分别对标记圆中每个晶粒内压入的所有压痕数据取平均值，得到标记圆中每个晶粒对应的压痕数据平均值；对标记圆中所有晶粒对应的压痕数据平均值加和后再求平均值，得到标记圆中所有晶粒对应的压痕数据平均值，将其代入残余应力的计算模型中，得到第二类残余应力。本发明可有效减小晶粒取向差异对纳米压痕法残余应力测试精度的影响。
本发明授权一种4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法在权利要求书中公布了：1.一种4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括： 对待测试的4J33可伐合金的样品进行处理，得到退火态无应力试样以及预加等双轴已知应力的试样； 将所述退火态无应力试样以及所述预加等双轴已知应力的试样装入纳米压痕仪，以待测点为圆心，以2倍晶粒平均尺寸为半径，对进入标记圆内的晶粒进行纳米压痕实验，得到所述标记圆中每个晶粒内压入的所有压痕数据；所述标记圆为用于晶粒选取所标记的圆； 分别对所述标记圆中每个晶粒内压入的所有压痕数据取平均值，得到所述标记圆中每个晶粒对应的压痕数据平均值； 对所述标记圆中所有晶粒对应的压痕数据平均值加和后再求平均值，得到所述标记圆中所有晶粒对应的压痕数据平均值； 将所述标记圆中所有晶粒对应的压痕数据平均值代入残余应力的计算模型中，得到第二类残余应力。
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