森瑟实验室有限责任公司赵莹获国家专利权
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龙图腾网获悉森瑟实验室有限责任公司申请的专利使用多能量分解的用于对象的X射线成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111867473B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201980018662.2，技术领域涉及：A61B6/00；该发明授权使用多能量分解的用于对象的X射线成像方法是由赵莹;赵永盛设计研发完成，并于2019-01-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本使用多能量分解的用于对象的X射线成像方法在说明书摘要公布了：本申请公开的方法使用以散射去除方法实现的2D射线照相硬件进行光谱成像或多能量成像，将具有三种或更多种成分材料的对象的X射线图像定量分离为成分图像。多能量系统可通过实现DRC多能量分解和K边缘减法成像方法来扩展。
本发明授权使用多能量分解的用于对象的X射线成像方法在权利要求书中公布了：1.对具有n≥3种不同材料成分t的对象成像的方法，所述方法包括： a提供X射线源和具有至少一个2D检测器的X射线测量设备，其中所述对象位于所述X射线源与所述X射线测量设备之间； b用来自所述X射线源具有n个不同能级的X射线照射所述对象，所述X射线穿过所述对象以被所述X射线测量设备接收； c在n≥2能级处获取测量值，其中，对n个能级中的每个进行至少一次测量； d通过在无散射扰动的情况下导出的测量值，针对每种材料成分和所述材料成分与两种或更多种成分的每种组合在每个能级处进行校准并建立数据库； e在每个谱级处从测量值中去除散射，以对于n个能级中的每个生成图像D1…n； f生成n方程组D1…n＝∫[Φ0nE×exp-μ1E×t1+μ2E×t2+…μnE×tn]×SEdE，其中，Φ0nE是所述X射线源在第n能级处的能谱，μnE是第n材料成分的质量衰减系数，tn是所述第n材料成分的投影质量密度，以及S是检测器的响应函数；以及 g求解所述方程组以针对n种材料成分t中的每个生成至少一个图像。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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