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龙图腾网获悉杭州电子科技大学申请的专利基于卷曲植物叶片辐射传输模型的叶绿素高光谱反演方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116223452B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310278337.8，技术领域涉及：G01N21/55；该发明授权基于卷曲植物叶片辐射传输模型的叶绿素高光谱反演方法是由张垚;吴伟志;何亚东;田守鹏;张竞成;吴开华设计研发完成，并于2023-03-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于卷曲植物叶片辐射传输模型的叶绿素高光谱反演方法在说明书摘要公布了：本发明公开了基于卷曲植物叶片辐射传输模型的叶绿素高光谱反演方法。该方法如下：一、对被测的卷曲叶片，测定半球反射光谱DHR和半球透射光谱DHT。采集卷曲叶片的三维点云数据。二、获取卷曲叶片的叶片结构参数、叶片表面粗糙度、叶片平均折射系数和叶片叶绿素吸收系数。三、基于三维点云数据，获得卷曲叶片的空间几何模型。四、对卷曲叶片的空间几何模型进行光谱模拟。五、叶绿素浓度反演。本发明考虑卷曲叶片的空间形态对多角度光谱模拟以及叶绿素高光谱反演结果的影响，提高了叶绿素反演的精度，进而能够以此为基础的获得高精度的冠层辐射传输模型。

本发明授权基于卷曲植物叶片辐射传输模型的叶绿素高光谱反演方法在权利要求书中公布了：1.基于卷曲植物叶片辐射传输模型的叶绿素高光谱反演方法其特征在于：括以下步骤： 步骤一、对被测的卷曲叶片，测定半球反射光谱DHR和半球透射光谱DHT；采集卷曲叶片的三维点云数据； 步骤二、获取卷曲叶片的叶片结构参数N、叶片表面粗糙度σ、叶片平均折射系数mla和叶片叶绿素吸收系数Kchlsλ； 步骤三、基于三维点云数据，获得卷曲叶片的空间几何模型； 步骤四、对卷曲叶片的空间几何模型进行光谱模拟； 4-1.以卷曲叶片的空间几何模型作为光线追踪的场景，进行微平面切分，得到多个叶片微平面； 4-2.将每个叶片微平面依次作为被测微平面；从被测微平面出发进行光线追踪，获得被测微平面受到的光源直接照射的光线角度，以及来自于其余叶片微平面反射的光线角度；针对每个角度的光线，均通过叶片反射率模型模拟出对应的双向反射分布函数BRDF，得到直射光线下被测微平面的双向反射分布函数BRDF，以及其他叶片微平面对被测微平面的双向反射分布函数BRDF的贡献； 4-3.完成所有叶片微平面的遍历后，结合所有叶片微平面的双向反射分布函数BRDF作为卷曲叶片的双向反射分布函数BRDF，获得卷曲叶片叶绿素含量与最大反射率、最大透射率、最小吸收率对应的波长下的方向半球反射系数、方向半球透射系数的函数关系； 步骤五、叶绿素浓度反演；基于步骤四得到的函数关系，以及步骤一测得的半球反射光谱DHR和半球透射光谱DHT，模拟出卷曲叶片的叶绿素浓度。

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