曾繁根获国家专利权
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龙图腾网获悉曾繁根申请的专利样品分离用芯片、样品检测装置及样品检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115078050B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110266406.4，技术领域涉及：G01N1/34；该发明授权样品分离用芯片、样品检测装置及样品检测方法是由陈冠宏;曾繁根设计研发完成，并于2021-03-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本样品分离用芯片、样品检测装置及样品检测方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种样品分离用芯片、样品检测装置及样品检测方法。样品分离用芯片包括第一基板、第一电极、第一介电层、第二基板、第二电极、第二介电层与通道层。第一电极设置在第一基板上。第一介电层设置在第一电极上，且包括第一开口。第一开口暴露出第一电极的一部分。第二电极设置在第二基板上。第二介电层设置在第二电极上，且包括第二开口。第二开口暴露出第二电极的一部分。第一开口所暴露出的第一电极的面积小于第二开口所暴露出的第二电极的面积。通道层夹设于第一介电层与第二介电层之间，且包括贯孔。贯孔连通于第一开口与第二开口之间。上述样品分离用芯片有助于缩短样品检测流程与检测时间。
本发明授权样品分离用芯片、样品检测装置及样品检测方法在权利要求书中公布了：1.一种样品分离用芯片，其特征在于，包括： 第一基板； 第一电极，设置在所述第一基板上； 第一介电层，设置在所述第一电极上，且包括第一开口，其中所述第一开口暴露出所述第一电极的一部分； 第二基板； 第二电极，设置在所述第二基板上； 第二介电层，设置在所述第二电极上，且包括第二开口，其中所述第二开口暴露出所述第二电极的一部分，且所述第一开口所暴露出的所述第一电极的面积小于所述第二开口所暴露出的所述第二电极的面积；以及 通道层，夹设于所述第一介电层与所述第二介电层之间，且包括贯孔，其中所述贯孔连通于所述第一开口与所述第二开口之间， 所述第一开口、所述第二开口与所述贯孔彼此对准， 所述贯孔的上视面积大于等于所述第二开口的上视面积， 所述贯孔的上视面积大于所述第一开口的上视面积。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人曾繁根，其通讯地址为：中国台湾新竹市光复路二段101号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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