惠州联合铜箔电子材料有限公司万新领获国家专利权
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龙图腾网获悉惠州联合铜箔电子材料有限公司申请的专利面向铜箔生产的表面工艺缺陷检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120543548B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511037329.X，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权面向铜箔生产的表面工艺缺陷检测方法及系统是由万新领;黄玉泉;成天耀;严政港;宋悦;曾蓉设计研发完成，并于2025-07-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本面向铜箔生产的表面工艺缺陷检测方法及系统在说明书摘要公布了：本申请涉及图像增强技术领域，具体涉及面向铜箔生产的表面工艺缺陷检测方法及系统，该方法包括：采集生产过程中的铜箔图像；获取铜箔图像中的各图像块；对铜箔图像进行边缘检测，得到其中的各边缘线；确定各图像块的纹理特征系数，构建各图像块的光照对比系数，修正高斯滤波器中的标准差参数，利用修正参数后的高斯滤波器与局部Retinex算法，对各图像块进行图像增强；通过图像增强后的铜箔图像，对铜箔进行表面缺陷检测。从而提高了铜箔表面工艺缺陷检测的精度。
本发明授权面向铜箔生产的表面工艺缺陷检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.面向铜箔生产的表面工艺缺陷检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤： 采集生产过程中的铜箔图像； 基于铜箔图像中所有像素点的灰度值将所有像素点划分为各类，对同类像素点进行连通域提取，得到铜箔图像中的各图像块； 对铜箔图像进行边缘检测，得到其中的各边缘线；通过各图像块与其相邻图像块的中心点连线上像素点的灰度值变化趋势，以及各图像块中各边缘线与其图像块中心点之间的度量距离，确定各图像块的纹理特征系数； 分析各图像块中所有像素点与铜箔图像中所有像素点的灰度差异，以及各图像块中像素点灰度值的离散程度，结合各图像块与其相邻图像块的纹理特征系数的差异，确定各图像块的光照对比系数； 基于各图像块的光照对比系数在所有图像块中的占比，修正高斯滤波器中的标准差参数，利用修正参数后的高斯滤波器与局部Retinex算法，对各图像块进行图像增强；通过图像增强后的铜箔图像，对铜箔进行表面缺陷检测。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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